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中科融合自主研發(fā)的MEMS微振鏡投射芯片,看芯片“小強(qiáng)”如何精準(zhǔn)打光

  • 芯片跌落測試可以評(píng)估芯片在跌落或沖擊情況下的機(jī)械強(qiáng)度和可靠性、檢測芯片封裝材料和焊接的可靠性、驗(yàn)證芯片內(nèi)部結(jié)構(gòu)和連接的穩(wěn)定性,以防止內(nèi)部部件松動(dòng)或脫落、評(píng)估芯片在實(shí)際使用中受到物理沖擊時(shí)的性能損壞情況。本次中科融合MEMS芯片直接跌落演示為極端場景演示,沖擊性遠(yuǎn)高于常規(guī)跌落測試強(qiáng)度。MEMS微振鏡投射芯片是實(shí)現(xiàn)動(dòng)態(tài)結(jié)構(gòu)光條紋投影的核心部件,其每秒鐘會(huì)產(chǎn)生數(shù)萬次的振動(dòng),整個(gè)生命周期需要振動(dòng)數(shù)千億次,且每一次光學(xué)掃描都要非常精準(zhǔn),對(duì)可靠性、準(zhǔn)確性要求極其苛刻。生而強(qiáng)悍:高可靠 超精準(zhǔn)中科融合自主研發(fā)的MEMS
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紅外鏡頭SWIR系列在硅晶圓共位貼合技術(shù)中的應(yīng)用

  • 硅晶圓共位貼合如有圖所示是一種用于半導(dǎo)體芯片精密對(duì)準(zhǔn)和鍵合到基板上的先進(jìn)技術(shù),該技術(shù)利用短波紅外 (SWIR) 光實(shí)現(xiàn)高精度定位和高效鍵合。目前常見的芯片貼合工藝芯片對(duì)芯片 (CoC):將芯片直接粘合到其他芯片上,可通過焊接、粘合劑或直接鍵合等方式實(shí)現(xiàn);芯片對(duì)晶圓 (CoW):將芯片粘合到晶圓上,類似于CoC,但晶圓比芯片大得多。CoW常用于創(chuàng)建堆疊芯片,可提升性能或功能;晶圓對(duì)晶圓 (WoW):將晶圓直接粘合到其他晶圓上,是最復(fù)雜的工藝,用于創(chuàng)建三維集成電路 (3
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芯片半導(dǎo)體介紹

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