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基于BIT技術(shù)的裝備控制系統(tǒng)故障診斷

引言　　內(nèi)裝測(cè)試(BIT)是20世紀(jì)70年代美國在軍用測(cè)試領(lǐng)域提出的全新的技術(shù)概念，其目的在于改善裝備的維修性、測(cè)試性和自診斷能力，同時(shí)也使裝備系統(tǒng)的機(jī)動(dòng)性和保障性得到很大改善。20世紀(jì)70年代以來，以航天航空等國
關(guān)鍵字： BIT 裝備控制系統(tǒng) 故障診斷

　　BIT系統(tǒng) 　　內(nèi)裝測(cè)試及自診斷系統(tǒng)包括信號(hào)調(diào)理模塊、數(shù)據(jù)采集模塊、數(shù)據(jù)存儲(chǔ)模塊、故障診斷、自激勵(lì)模塊和通訊電纜輸出模塊六部分(見圖1)。模擬電壓采集中信號(hào)調(diào)理電路負(fù)責(zé)完成對(duì)信號(hào)的差分放大、濾波和限幅等調(diào)理工作。邏輯量、頻率量、時(shí)間量和脈沖量采集中的信號(hào)調(diào)理電路負(fù)責(zé)完成對(duì)信號(hào)的限幅和數(shù)據(jù)緩沖等調(diào)理工作。光電隔離主要是為了把所測(cè)量的信號(hào)和計(jì)算機(jī)相隔離，這樣可以確保數(shù)據(jù)采集的讀數(shù)不會(huì)受到接地電勢(shì)差或共模電壓的影響。數(shù)據(jù)存儲(chǔ)模塊主要用來存儲(chǔ)一些內(nèi)裝測(cè)試及自診斷系統(tǒng)的診斷信息，包括測(cè)量的數(shù)字信息、設(shè)備上的模
關(guān)鍵字： BIT A/D 裝備控制

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