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EEPW首頁(yè) >> 主題列表 >> 軟錯(cuò)誤

軟錯(cuò)誤是如何損壞重要信息的?

  • 軟錯(cuò)誤是指高能粒子與硅元素之間的相互作用而在半導(dǎo)體中造成的隨機(jī)、臨時(shí)的狀態(tài)改變或瞬變。隨著SRAM工藝的性能日益提高，越來越低的電壓和節(jié)點(diǎn)電容使得SRAM器件更易出現(xiàn)軟錯(cuò)誤。軟錯(cuò)誤不僅會(huì)損壞數(shù)據(jù)，而且還有可能
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一種FPGA單粒子軟錯(cuò)誤檢測(cè)電路設(shè)計(jì)

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軟錯(cuò)誤介紹

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