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EEPW首頁 >> 主題列表 >> 近場探頭

使用近場探頭和電流探頭進(jìn)行EMI干擾排查

  • 在開發(fā)電子產(chǎn)品的過程中，電磁干擾EMI（Electro Magnetic Interference）是工程師們不得不考慮的問題。電磁干擾（EMI）可能會導(dǎo)致許多問題，尤其是在產(chǎn)品開發(fā)階段或產(chǎn)品驗收階段。如果電路設(shè)計受到電磁干擾的影響，可能會出現(xiàn)亂碼顯示，數(shù)據(jù)接觸不良或者是其他線路故障。為了最大限度地減少電磁干擾的影響，各個國家的政府機(jī)構(gòu)都制定并實施了針對各個產(chǎn)品類型的EM輸出的嚴(yán)苛標(biāo)準(zhǔn)，一般我們稱為電磁兼容性（EMC）測試。所有電子相關(guān)的產(chǎn)品在上市前必須強(qiáng)制性通過電磁兼容性測試。許多EMC兼容測試
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安諾尼頻譜儀及EMC天線和近場探頭在EMC&EMI預(yù)測試中的應(yīng)用

  • 一、為什么要進(jìn)行EMC合規(guī)性預(yù)測試?隨著電氣電子技術(shù)的發(fā)展，家用電器產(chǎn)品日益普及和電子化，廣播電視、郵電通訊和計算機(jī)網(wǎng)絡(luò)的日益發(fā)達(dá)，電磁環(huán)境日益復(fù)雜和惡化，使得電氣電子產(chǎn)品的電磁兼容 性(EMC電磁干擾EMI與電
  • 關(guān)鍵字： 頻譜儀  近場探頭  EMC&EMI預(yù)測試  EMC天線  電磁兼容  
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近場探頭介紹

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