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EEPW首頁(yè) >> 主題列表 >> 遙測(cè)信號(hào)

解析：提高遙測(cè)信號(hào)處理器測(cè)試性方法

  • 解析：提高遙測(cè)信號(hào)處理器測(cè)試性方法-可測(cè)試性定義為：產(chǎn)品能及時(shí)準(zhǔn)確地確定其狀態(tài)，隔離其內(nèi)部故障的設(shè)計(jì)特性，以提高產(chǎn)品可測(cè)試性為目的而進(jìn)行的設(shè)計(jì)被稱為可測(cè)試性設(shè)計(jì)。
  • 關(guān)鍵字： 遙測(cè)信號(hào)  

一種提高遙測(cè)信號(hào)處理器測(cè)試性方法

  • 摘要 針對(duì)遙測(cè)信號(hào)處理器的設(shè)計(jì)原理，增加少量硬件電路，利用其自身FPGA剩余邏輯資源完成自檢模塊設(shè)計(jì)，實(shí)現(xiàn)了信號(hào)處理器BIT測(cè)試功能，提高了信號(hào)處理器在掛機(jī)狀態(tài)下的測(cè)試覆蓋率和故障檢測(cè)率。
    關(guān)鍵詞 FPGA；BIT；
  • 關(guān)鍵字： 遙測(cè)信號(hào)  處理器  測(cè)試  方法    

基于FPGA和LabView的遙測(cè)信號(hào)模擬源設(shè)計(jì)

  • 摘要：基于FPGA和LabView設(shè)計(jì)了用于某遙測(cè)組件測(cè)試的專用設(shè)備。運(yùn)用DDS技術(shù)實(shí)現(xiàn)傳輸速率可變的LNDS信號(hào)，并使用LabView圖形編程工具，實(shí)現(xiàn)了數(shù)字信號(hào)源的交互界面，可以產(chǎn)生由上住機(jī)程控信號(hào)傳輸速率和數(shù)據(jù)內(nèi)容可變的
  • 關(guān)鍵字： LabView  FPGA  遙測(cè)信號(hào)  模擬源    

基于PXI總線的遙測(cè)信號(hào)測(cè)試平臺(tái)的設(shè)計(jì)

  • 介紹了一種基于PXI總線的測(cè)試平臺(tái)，以實(shí)現(xiàn)遙測(cè)系統(tǒng)中PCM碼的持續(xù)無(wú)丟幀存儲(chǔ)和模擬各種傳感器信號(hào)的功能。
  • 關(guān)鍵字： PXI  總線  遙測(cè)信號(hào)  測(cè)試平臺(tái)    
共4條 1/1 1

遙測(cè)信號(hào)介紹

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