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基于DSP+CPLD的高性能金屬磁記憶檢測儀的設(shè)計與實現(xiàn)

  • 0引言金屬磁記憶檢測技術(shù)自提出后一直具有良好的應用前景,但其理論研究的不足是制約該技術(shù)應用和發(fā)展的一大瓶頸,現(xiàn)有的理論研究認為,鐵磁材料結(jié)構(gòu)表層的隱性缺陷會產(chǎn)生法向磁場分量過零值點,使得切向磁場分量取最
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金屬磁記憶介紹

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