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集成電路自動(dòng)測(cè)試設(shè)備ic測(cè)試ate測(cè)
集成電路自動(dòng)測(cè)試設(shè)備ic測(cè)試ate測(cè) 文章 進(jìn)入集成電路自動(dòng)測(cè)試設(shè)備ic測(cè)試ate測(cè)技術(shù)社區(qū)
IC測(cè)試基本原理與ATE測(cè)試向量生成
- 集成電路測(cè)試（IC測(cè)試）主要的目的是將合格的芯片與不合格的芯片區(qū)分開，保證產(chǎn)品的質(zhì)量與可靠性。隨著集成電路的飛速發(fā)展，其規(guī)模越來(lái)越大，對(duì)電路的質(zhì)量與可靠性要求進(jìn)一步提高，集成電路的測(cè)試方法也變得越來(lái)越困難。因此，研究...
- 關(guān)鍵字： 集成電路自動(dòng)測(cè)試設(shè)備IC測(cè)試ATE測(cè)
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集成電路自動(dòng)測(cè)試設(shè)備ic測(cè)試ate測(cè)介紹
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