首頁(yè)　 資訊　 商機(jī) 　 下載　 拆解 　 高校　 招聘 　 雜志　 會(huì)展　 EETV　 百科 　 問答　 電路圖　 工程師手冊(cè) 　 Datasheet　 100例 　 活動(dòng)中心　 E周刊閱讀 　 樣片申請(qǐng)
EEPW首頁(yè) >> 主題列表 >> 驗(yàn)證及測(cè)試論壇”

NI主辦第三屆“設(shè)計(jì)、驗(yàn)證及測(cè)試論壇”

  • 美國(guó)國(guó)家儀器有限公司（National Instruments，簡(jiǎn)稱NI）于9月底在北京成功主辦第三屆“設(shè)計(jì)、驗(yàn)證及測(cè)試論壇”（Design Validation and Test Forum，即DVTF 2006）。本屆DVTF是繼2004和2005年之后，NI連續(xù)第三年在中國(guó)地區(qū)成功地舉辦這一活動(dòng)，并且DVTF的品牌業(yè)已在行業(yè)用戶和媒體間確立了相當(dāng)?shù)闹取? 本屆論壇以一場(chǎng)形式新穎的主題演講開始，并分為“自動(dòng)化測(cè)試”和“嵌入式系統(tǒng)設(shè)計(jì)”兩
  • 關(guān)鍵字： “設(shè)計(jì)  NI  測(cè)量  測(cè)試  第三屆  驗(yàn)證及測(cè)試論壇”  測(cè)試測(cè)量  

NI 中國(guó)成功舉辦第二屆“設(shè)計(jì)、驗(yàn)證及測(cè)試論壇”

  •     新聞發(fā)布——2005年5月——美國(guó)國(guó)家儀器有限公司（National Instruments，簡(jiǎn)稱NI）于4月在上海國(guó)際會(huì)議中心成功主辦第二屆“設(shè)計(jì)、驗(yàn)證及測(cè)試論壇” （Design Validation Test Forum，即DVTF 2005），今年的主題為“測(cè)試緊跟設(shè)計(jì)的步伐”。本屆論壇總共吸引了逾500位工程師、技術(shù)人員和院校教師參與此次盛會(huì)，其中97.1%的來賓表示“此次活動(dòng)對(duì)他們的工作有所幫助”，70%將會(huì)推薦他們的同事參加明年的“設(shè)計(jì)、驗(yàn)證及測(cè)試論壇”
  • 關(guān)鍵字： “設(shè)計(jì)  驗(yàn)證及測(cè)試論壇”  測(cè)試測(cè)量  
共2條 1/1 1

驗(yàn)證及測(cè)試論壇”介紹

您好，目前還沒有人創(chuàng)建詞條驗(yàn)證及測(cè)試論壇”!
歡迎您創(chuàng)建該詞條，闡述對(duì)驗(yàn)證及測(cè)試論壇”的理解，并與今后在此搜索驗(yàn)證及測(cè)試論壇”的朋友們分享。    創(chuàng)建詞條

熱門主題

樹莓派    linux   
關(guān)于我們 - 廣告服務(wù) - 企業(yè)會(huì)員服務(wù) - 網(wǎng)站地圖 - 聯(lián)系我們 - 征稿 - 友情鏈接 - 手機(jī)EEPW
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產(chǎn)品世界》雜志社 版權(quán)所有 北京東曉國(guó)際技術(shù)信息咨詢有限公司
備案 京ICP備12027778號(hào)-2 北京市公安局備案：1101082052    京公網(wǎng)安備11010802012473