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高速AD測(cè)試中的難點(diǎn)

  • 高精度ADC的采樣率不高，測(cè)試關(guān)鍵是要有高精度的信號(hào)源。而高速ADC測(cè)試是一項(xiàng)更具挑戰(zhàn)性的工作，其中采樣時(shí)鐘的Jitter和高速數(shù)字接口是兩個(gè)必須面對(duì)的難題。
    采樣時(shí)鐘的Jitter（抖動(dòng)）問(wèn)題
    隨著輸入信號(hào)和采樣頻率
  • 關(guān)鍵字： 高速AD  測(cè)試    

基于單片機(jī)系統(tǒng)采用DMA塊傳輸方式實(shí)現(xiàn)高速數(shù)據(jù)采集

  • 摘 要： 介紹一種基于單片機(jī)系統(tǒng)設(shè)計(jì)的DMA硬件電路，以字塊傳輸方式與高速A/D接口。結(jié)合在數(shù)字式磁通表設(shè)計(jì)中的 ...
  • 關(guān)鍵字： 單片機(jī)系統(tǒng)  直接存儲(chǔ)器  DMA  高速AD  
共2條 1/1 1

高速ad介紹

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