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物理學(xué)家發(fā)現(xiàn)未來奈米晶片設(shè)計(jì)大障礙

• 　　一群來自加拿大麥基爾大學(xué)(McGillUniversity)的物理學(xué)家們證實(shí)，當(dāng)導(dǎo)線是由兩種不同的金屬組成時(shí)，電流有可能會(huì)大幅度降低;這意味著未來的半導(dǎo)體設(shè)計(jì)可能遇到障礙。 　　上述研究人員是與美國汽車大廠通用(GM)研發(fā)部門共同合作，發(fā)現(xiàn)讓人驚訝的電流遽降現(xiàn)象;顯示在新興的納米電子領(lǐng)域，材料的選擇與元件設(shè)計(jì)可能會(huì)成為一大挑戰(zhàn)。隨著半導(dǎo)體元件尺寸持續(xù)微縮，未來晶片的設(shè)計(jì)工程師將需要了解，當(dāng)金屬導(dǎo)線直徑被局限到僅有數(shù)個(gè)原子寬時(shí)，電荷的行為模式是如何變化。 　　麥基爾大學(xué)物理學(xué)教授PeterGrutt
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