201001 文章進(jìn)入201001技術(shù)社區(qū)

降低精密放大器的電壓失調(diào)

本文對(duì)精密放大器的電壓失調(diào)誤差進(jìn)行分析，并給出了基于電阻網(wǎng)絡(luò)解決方案，分別提供了分立和集成方案。
關(guān)鍵字： Maxim 放大器電位器分壓電阻失調(diào)誤差 201001

熱量表的流量自動(dòng)標(biāo)定系統(tǒng)的設(shè)計(jì)

為了實(shí)現(xiàn)熱量表的流量自動(dòng)標(biāo)定和提高標(biāo)定效率，采用高精度的稱(chēng)重法設(shè)計(jì)了熱量表的流量自動(dòng)標(biāo)定系統(tǒng)。
關(guān)鍵字：熱量表流量自動(dòng)標(biāo)定 MSP430F149 主控芯片 201001

基于改進(jìn)遺傳算法的支持向量機(jī)特征選擇

針對(duì)支持向量機(jī)在分類(lèi)過(guò)程中的特征選擇問(wèn)題，提出了一種改進(jìn)的遺傳算法。在演化進(jìn)程中運(yùn)用Meteopolis準(zhǔn)則通過(guò)合理選群來(lái)防止進(jìn)化陷入局部極值區(qū)域。最后針對(duì)UCI數(shù)據(jù)庫(kù)中的數(shù)據(jù)，通過(guò)將該算法與其他幾種方法進(jìn)行了比較，證明了本文算法具有較優(yōu)的特征選擇效果，并已成功應(yīng)用在基于支持向量機(jī)的數(shù)字電路板故障診斷中。
關(guān)鍵字：支持向量機(jī) 互敏感度信息量獨(dú)立敏感度信息量自適應(yīng)變異率 Meteopolis準(zhǔn)則 201001

基于JTAG邊界掃描方式的重構(gòu)控制器的設(shè)計(jì)

為充分利用硬件資源，滿(mǎn)足不同的應(yīng)用需求,本文提出了一種基于JTAG邊界掃描模式配置的重構(gòu)控制器，詳細(xì)介紹控制器的硬件實(shí)現(xiàn)以及配置流程，該控制器通過(guò)模擬JTAG接口時(shí)序及TAP狀態(tài)機(jī)的功能，實(shí)現(xiàn)在系統(tǒng)配置目標(biāo)可編程器件。
關(guān)鍵字： FPGA TAP狀態(tài)機(jī) JTAG邊界掃描重構(gòu) 201001

戶(hù)外高壓裝置智能警示器設(shè)計(jì)

介紹了一種經(jīng)濟(jì)實(shí)用的戶(hù)外高壓裝置警示器的硬件電路及程序設(shè)計(jì)。該設(shè)備通過(guò)LED漢字警示和熱釋紅外模塊探測(cè)后語(yǔ)音報(bào)警提醒功能相結(jié)合，對(duì)進(jìn)入高壓非安全區(qū)域內(nèi)人員及時(shí)進(jìn)行視覺(jué)和聽(tīng)覺(jué)兩方面的提示。系統(tǒng)功耗低、性能可靠、可擴(kuò)展性強(qiáng)。
關(guān)鍵字： LED 單片機(jī) 熱釋紅外模塊智能警示器 201001

基于AD9640的無(wú)線(xiàn)接收機(jī)設(shè)計(jì)

本文以認(rèn)知抗干擾為設(shè)計(jì)目標(biāo)，從接收機(jī)的核心器件ADC入手，分析了設(shè)計(jì)對(duì)ADC的性能要求，并選擇雙通道A/D轉(zhuǎn)換器AD9640，結(jié)合FPGA實(shí)現(xiàn)了中等頻譜利用率的無(wú)線(xiàn)接收機(jī)設(shè)計(jì)。給出了PCB設(shè)計(jì)排版布線(xiàn)以及接收機(jī)實(shí)物調(diào)試方案。
關(guān)鍵字： ADC PCB 無(wú)線(xiàn)接收機(jī) 調(diào)試 AD9640 201001

BIT技術(shù)在裝備控制系統(tǒng)故障診斷中的應(yīng)用

在分析了內(nèi)裝測(cè)試關(guān)鍵技術(shù)基礎(chǔ)上，設(shè)計(jì)了一套基于ADuC812且集各種檢測(cè)功能于一體的BIT測(cè)試設(shè)備，詳細(xì)介紹了系統(tǒng)設(shè)計(jì)方案。
關(guān)鍵字：內(nèi)裝測(cè)試實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè) ADuC812 故障診斷 201001

基于LabVIEW的機(jī)械振動(dòng)信號(hào)分析系統(tǒng)的開(kāi)發(fā)

結(jié)合旋轉(zhuǎn)機(jī)械設(shè)備的典型故障特征，設(shè)計(jì)開(kāi)發(fā)了一個(gè)基于LabVIEW的信號(hào)分析處理系統(tǒng), 可以實(shí)現(xiàn)常用的信號(hào)分析處理方法。該系統(tǒng)可讀取、存儲(chǔ)不同類(lèi)型的數(shù)據(jù)格式，對(duì)采集的信號(hào)從幅域、時(shí)域、頻域三個(gè)不同角度進(jìn)行分析處理，提取信號(hào)的特征信息，用于旋轉(zhuǎn)機(jī)械故障的初步診斷。通過(guò)對(duì)轉(zhuǎn)子、軸承、齒輪的實(shí)際振動(dòng)數(shù)據(jù)進(jìn)行分析處理，驗(yàn)證了系統(tǒng)的正確性與可行性。
關(guān)鍵字：虛擬儀器 LabVIEW 故障診斷振動(dòng)信號(hào)分析處理 201001

芯片高速仿真的創(chuàng)新

　　目前IC設(shè)計(jì)中，軟件工作量越來(lái)越大(圖1)，在65nm設(shè)計(jì)成本統(tǒng)計(jì)中，軟件已占50%，驗(yàn)證占30%，其他還有樣機(jī)、確認(rèn)(Validation)、物理、架構(gòu)。隨著工藝節(jié)點(diǎn)向45nm、32nm、22nm發(fā)展，軟件的比例將超過(guò)50%，同時(shí)驗(yàn)證工作量將維持30%左右。可見(jiàn)，由于軟件的增長(zhǎng)將使軟硬件協(xié)同仿真成為一個(gè)重要環(huán)節(jié)。當(dāng)前，CPU、圖形、無(wú)線(xiàn)、DTV/STB、數(shù)碼相機(jī)/攝像機(jī)、多功能打印機(jī)等芯片需要軟硬件協(xié)同仿真。　　在Gary Smith EDA公司《2009年RTL市場(chǎng)趨勢(shì)分析報(bào)告》中指出，E
關(guān)鍵字： IC設(shè)計(jì) EDA 65nm 201001

新產(chǎn)品

　　一些新興公司的產(chǎn)品引起了人們的關(guān)注。　　MaxLinear的電視/機(jī)頂盒調(diào)諧器IC 　　通過(guò)采用CMOS寬帶RF/混合信號(hào)SoC技術(shù)，MaxLinear公司推出用于DTV、有線(xiàn)電視和移動(dòng)用調(diào)諧器—解調(diào)器SoC。該公司產(chǎn)品系列分為三類(lèi)：滿(mǎn)足多標(biāo)準(zhǔn)的TV調(diào)諧器MxL30xRF系列;有線(xiàn)電視用TV調(diào)諧器與SoC—MxL20xRF、MxL241SF;用于移動(dòng)電視的MxL751SM，是符合ISDB-T的調(diào)諧器—解調(diào)器，在LNA(低噪聲放大器)、SNR(信噪比)與成本方面
關(guān)鍵字： Sequans TD-LTE USB網(wǎng)卡 201001

電源產(chǎn)品的趨勢(shì)與創(chuàng)新

　　電源及電源管理解決方案是熱門(mén)，也是這次Aisapress的熱門(mén)話(huà)題之一。　　首先，F(xiàn)airchild擺開(kāi)了電源解決方案龍門(mén)陣。　　外部適配器　　據(jù)Darnell公司的分析，AC-DC外部電源2009年達(dá)到22億件，2013年將達(dá)到33億件，年復(fù)合增長(zhǎng)率可為11.1%(圖1)。　　從應(yīng)用角度看(圖2)，最大的增長(zhǎng)部分是通信，主要由移動(dòng)手機(jī)驅(qū)動(dòng)，預(yù)計(jì)2013年將達(dá)到23億件，其中小于75W的產(chǎn)品主要由通信市場(chǎng)驅(qū)動(dòng)。　　Fairchild的創(chuàng)新產(chǎn)品有75W以下PWM控制器。通常，
關(guān)鍵字： Fairchild 電源管理外部電源 PWM控制器 201001

IC測(cè)試的創(chuàng)新

　　EDA工具加速I(mǎi)C測(cè)試　　隨著IC制程節(jié)點(diǎn)從90nm向65nm和45nm延伸，需要測(cè)試的數(shù)據(jù)量會(huì)激增，相應(yīng)地會(huì)帶來(lái)測(cè)試成本的提高(圖1)。例如，從90nm到65nm時(shí)，由于增加了門(mén)數(shù)，傳統(tǒng)的測(cè)試量急劇增加;同時(shí)，在速(at-speed)測(cè)試也成倍增加，這是由于時(shí)序和信號(hào)完整性的敏感需求;到了45nm時(shí)代，在前兩者的基礎(chǔ)上，又增加了探測(cè)新缺陷的測(cè)試。　　為了提高測(cè)試效率，對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)的壓縮持續(xù)增長(zhǎng)。據(jù)ITRS(國(guó)際半導(dǎo)體技術(shù)發(fā)展路線(xiàn)圖)預(yù)測(cè)(圖2)，2010年的壓縮需求比2009年翻番。
關(guān)鍵字： EDA IC測(cè)試 65nm 45nm 201001

2010請(qǐng)帶著希望上路

　　對(duì)于整個(gè)電子產(chǎn)業(yè)來(lái)說(shuō)，2009是個(gè)幸福缺失的年份，不管我們?nèi)绾瓮春捱@一場(chǎng)金融風(fēng)暴帶來(lái)的腥風(fēng)血雨，至少我們已經(jīng)撕去了屬于2009年最后一頁(yè)日歷，迎來(lái)了嶄新年輪的開(kāi)始。既然最黑暗的時(shí)刻都已經(jīng)挺過(guò)來(lái)了，未來(lái)總會(huì)比現(xiàn)在光明些吧。　　從2008年四季度開(kāi)始的這場(chǎng)金融風(fēng)暴，在重創(chuàng)了全球經(jīng)濟(jì)的同時(shí)，不可避免地將整個(gè)電子產(chǎn)業(yè)的發(fā)展水平拉回了2001年。經(jīng)歷過(guò)2008年的全行業(yè)深淵性墜落之后，在一片肅殺悲觀中到來(lái)的2009堪稱(chēng)整個(gè)產(chǎn)業(yè)驚心動(dòng)魄的一年，多家分析機(jī)構(gòu)不斷下調(diào)對(duì)半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)發(fā)展的預(yù)期，最可怕的數(shù)據(jù)預(yù)測(cè)整
關(guān)鍵字：邏輯電路微處理器存儲(chǔ)器摩爾定律 201001

陣列處理器系統(tǒng)芯片的發(fā)展

本文從數(shù)據(jù)流動(dòng)的計(jì)算模式、并行計(jì)算的陣列芯片、應(yīng)用演變的數(shù)學(xué)技術(shù)、以及硅基芯片的制造技術(shù)等4個(gè)方面，研究了陣列處理器系統(tǒng)芯片的發(fā)展，提出了一種統(tǒng)一體系結(jié)構(gòu)的陣列處理器系統(tǒng)芯片，簡(jiǎn)稱(chēng)APU系統(tǒng)芯片。
關(guān)鍵字：嵌入式計(jì)算系統(tǒng)芯片陣列處理器計(jì)算模式 201001

2009年中國(guó)IC設(shè)計(jì)業(yè)狀況分析

日前，由工業(yè)和信息化部軟件與集成電路促進(jìn)中心(以下簡(jiǎn)稱(chēng)CSIP)組織的第四屆“中國(guó)芯”評(píng)選活動(dòng)結(jié)束。本文根據(jù)參選企業(yè)提供的詳細(xì)數(shù)據(jù)以及獲獎(jiǎng)企業(yè)的發(fā)展?fàn)顩r，通過(guò)科學(xué)方法進(jìn)行了分析，試圖從中看出2009年中國(guó)集成電路設(shè)計(jì)業(yè)的發(fā)展?fàn)顩r，并理清未來(lái)發(fā)展趨勢(shì)。
關(guān)鍵字：中國(guó)芯 IC設(shè)計(jì) 中國(guó)芯工程 CSIP 201001

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