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CMOS探測(cè)器的射線檢測(cè)應(yīng)用

  • 1CMOS探測(cè)器簡(jiǎn)介射線檢測(cè)技術(shù)利用X射線探測(cè)材料內(nèi)部的不連續(xù)性，并在記錄介質(zhì)上顯示出圖像。隨著技術(shù)的不斷進(jìn)步，射線檢測(cè)從傳統(tǒng)的以膠片...
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cmos探測(cè)器射線檢介紹

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