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利用DFT規(guī)則提高ASIC錯(cuò)誤檢測(cè)范圍

  • 本文是作者關(guān)于錯(cuò)誤檢測(cè)范圍分析和ASIC設(shè)計(jì)全掃描測(cè)試模擬的第二篇文章(第一篇《在設(shè)計(jì)中遵循DFT規(guī)則提高錯(cuò)...
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dft規(guī)則介紹

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