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DA 證書鏈之初體驗(yàn)

  • 1. 前言本文是上文 《STM32H5 DA 之初體驗(yàn)(帶 TrustZone)》的后續(xù)之作。倘若你還沒(méi)有閱讀此 文,那么建議你先閱讀下,然后再回過(guò)頭來(lái)閱讀本文。之前我們已經(jīng)講過(guò)了如何通過(guò) DA 認(rèn)證來(lái)回退芯片產(chǎn)品狀態(tài),或者重新打開(kāi)調(diào)試口,這樣開(kāi) 發(fā)人員在芯片為 Closed 狀態(tài)下時(shí)仍可以調(diào)試芯片。在這個(gè) DA 認(rèn)證過(guò)程中,有使用到兩個(gè)東 西:證書和私鑰,它與之前已經(jīng)預(yù)配置到芯片內(nèi)部的 obk 文件是對(duì)應(yīng)的關(guān)系。也就是說(shuō), 如果你 已經(jīng)預(yù)配置了芯片, 但對(duì)應(yīng)的私鑰文件或者證書丟失或忘記保存了, 那么此芯
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打破多項(xiàng)國(guó)產(chǎn)空白 芯華章率先發(fā)布數(shù)字驗(yàn)證調(diào)試系統(tǒng)

  • 2022年5月11日,EDA(集成電路設(shè)計(jì)工具)智能軟件和系統(tǒng)領(lǐng)先企業(yè)芯華章正式發(fā)布基于創(chuàng)新架構(gòu)的數(shù)字驗(yàn)證調(diào)試系統(tǒng)——昭曉Fusion DebugTM 。該系統(tǒng)基于芯華章自主開(kāi)發(fā)的調(diào)試數(shù)據(jù)庫(kù)和開(kāi)放接口,可兼容產(chǎn)業(yè)現(xiàn)有解決方案,提供完善的生態(tài)支持,并具備易用性、高性能等特點(diǎn),能夠幫助工程師簡(jiǎn)化困難的調(diào)試任務(wù),有效解決難度不斷上升的設(shè)計(jì)和驗(yàn)證挑戰(zhàn)。在芯華章研討會(huì)暨產(chǎn)品發(fā)布會(huì)上,芯華章科技軟件研發(fā)總監(jiān)黃世杰詳細(xì)介紹了昭曉Fusion DebugTM產(chǎn)品的完整解決方案,并且用實(shí)際項(xiàng)目演示了工具的典型應(yīng)用場(chǎng)景。合肥
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MIKROE 推出 Planet Debug——嵌入式設(shè)計(jì)行業(yè)中的首個(gè)硬件即服務(wù)平臺(tái)

  • 2021 年 12 月 06 日:MikroElektronika(MIKROE)作為一家通過(guò)提供基于成熟標(biāo)準(zhǔn)的創(chuàng)新式硬軟件產(chǎn)品來(lái)大幅縮短開(kāi)發(fā)時(shí)間的嵌入式解決方案的公司,今天推出 Planet Debug,即一種硬件即服務(wù)平臺(tái),使設(shè)計(jì)人員能夠遠(yuǎn)程開(kāi)發(fā)和調(diào)試嵌入式系統(tǒng),而不必投資昂貴的硬件。只需 4 美元/天,設(shè)計(jì)人員就可以根據(jù)自己的要求,配置遠(yuǎn)程 Planet Debug 工作站,進(jìn)行設(shè)計(jì),通過(guò) MIKROE 的 NECTO Studio IDE(集成開(kāi)發(fā)環(huán)境)來(lái)開(kāi)發(fā)和調(diào)試自己的應(yīng)用代碼,而不需要采購(gòu)硬件
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#ifdef DEBUG;debug();#endif

  • 在看例程的時(shí)候,經(jīng)??吹街骱瘮?shù)開(kāi)始前會(huì)有這樣的代碼,知道是用作調(diào)試的。但對(duì)此比較模糊,intmain(void){ifdefDEBUGdebug();en
  • 關(guān)鍵字: ifdefDEBUG  debug()  endi  
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