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一種IGBT元件自損快速檢測(cè)新方法

  • IGBT元件往往采用多并聯(lián)形式,因此如果某個(gè)IGBT元件發(fā)生故障,將會(huì)導(dǎo)致并聯(lián)回路中的大量IGBT損壞。而常用的快速檢測(cè)方法中或多或少存在著一些無法避免的缺點(diǎn),因此需要一種新的快速檢測(cè)法來滿足滿足IGBT保護(hù)的實(shí)際要求。IG...
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igbt自損快速檢測(cè)電壓監(jiān)測(cè)門極電壓監(jiān)介紹

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