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基于PXI平臺(tái)的光電通信轉(zhuǎn)換器自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì)

  • 光電通信轉(zhuǎn)換器自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)按照光纖模塊產(chǎn)品對(duì)外接口規(guī)范設(shè)計(jì)測(cè)試系統(tǒng),采用基于PXI平臺(tái)的模塊化產(chǎn)品和分立式測(cè)試儀器相結(jié)合的方式進(jìn)行設(shè)計(jì),提供了對(duì)光纖模塊產(chǎn)品的接口通信功能和性能指標(biāo)的測(cè)試功能,可以完成不同產(chǎn)品的自動(dòng)化測(cè)試。
  • 關(guān)鍵字: PXI平臺(tái)  模塊化  光纖模塊  自動(dòng)化測(cè)試  201712  

NI將半導(dǎo)體ATE數(shù)字功能引入PXI平臺(tái)

  • NI(美國(guó)國(guó)家儀器公司,National Instruments,簡(jiǎn)稱(chēng)NI) 作為致力于幫助工程師和科學(xué)家應(yīng)對(duì)全球最嚴(yán)峻的工程挑戰(zhàn)的平臺(tái)系統(tǒng)供應(yīng)商,今日宣布推出了NI PXle-6570基于圖形向量的數(shù)字通道板卡和NI數(shù)字圖形向量編輯器。
  • 關(guān)鍵字: NI  ATE  PXI平臺(tái)  

NI模塊擴(kuò)展PXI平臺(tái)的功能

  •   美國(guó)國(guó)家儀器有限公司(National Instruments,簡(jiǎn)稱(chēng)NI)擴(kuò)展其PXI平臺(tái)的功能,通過(guò)新發(fā)布的每個(gè)引腳參數(shù)測(cè)量單元模塊(PPMU)和源測(cè)量單元模塊(SMU)用于半導(dǎo)體的特性描述和生產(chǎn)測(cè)試。NI PXIe-6556 200 MHz高速數(shù)字I / O具備PPMU, NI PXIe- 4140和NI PXIe-4141四通道的SMU可降低資本設(shè)備成本,縮短測(cè)試時(shí)間,并提升各種測(cè)試設(shè)備的混合信號(hào)靈活性。  
  • 關(guān)鍵字: NI  PXI平臺(tái)  

NI擴(kuò)展PXI平臺(tái)的功能 降低半導(dǎo)體分析和測(cè)試成本

  •   2011年8月——美國(guó)國(guó)家儀器有限公司(National Instruments,簡(jiǎn)稱(chēng)NI)擴(kuò)展其PXI平臺(tái)的功能,通過(guò)新發(fā)布的每個(gè)引腳參數(shù)測(cè)量單元模塊(PPMU)和源測(cè)量單元模塊(SMU)用于半導(dǎo)體的特性描述和生產(chǎn)測(cè)試。NI PXIe-6556 200 MHz高速數(shù)字I / O具備PPMU, NI PXIe- 4140和NI PXIe-4141四通道的SMU可降低資本設(shè)備成本,縮短測(cè)試時(shí)間,并提升各種測(cè)試設(shè)備的混合信號(hào)靈活性。   使用NI PXIe-6556高速數(shù)字I /
  • 關(guān)鍵字: NI  PXI平臺(tái)  PPMU  SMU  

基于LabVIEW和PXI平臺(tái)的并聯(lián)機(jī)器人控制系統(tǒng)的開(kāi)發(fā)

  • 應(yīng)用領(lǐng)域:機(jī)器人運(yùn)動(dòng)控制挑戰(zhàn):應(yīng)用成熟的NI系列產(chǎn)品快速構(gòu)建一套功能完善、性能優(yōu)越、人機(jī)界面友好的開(kāi)放式多...
  • 關(guān)鍵字: LabVIEW  PXI平臺(tái)  并聯(lián)機(jī)器人控制  

NI與BAE Systems、Phase Matrix公司共同發(fā)布26.5GHz PXI 綜合測(cè)試儀

  •   2008年10月——美國(guó)國(guó)家儀器有限公司(National Instruments,簡(jiǎn)稱(chēng)NI)與BAE Systems公司、Phase Matrix公司于近日共同發(fā)布了一款針對(duì)軍事和商業(yè)射頻/微波應(yīng)用的、基于PXI平臺(tái)的下一代26.5GHz綜合測(cè)試儀。這款綜合測(cè)試儀通過(guò)整合模塊化硬件與平臺(tái)軟件來(lái)創(chuàng)建用戶(hù)自定義的測(cè)試測(cè)量系統(tǒng),它屬于虛擬儀器的一個(gè)分支。新款綜合測(cè)試儀是以5個(gè)兼容3U PXI Express的射頻/微波下變頻模塊為基礎(chǔ)而設(shè)計(jì)的,它擁有從100kHz到26.5GHz的
  • 關(guān)鍵字: PXI平臺(tái)  NI  Phase Matrix  射頻綜合測(cè)試儀  

采用模塊化儀器構(gòu)建RFID測(cè)試系統(tǒng)

  • 摘要: 本文主要介紹如何利用NI的優(yōu)勢(shì)技術(shù),具體實(shí)現(xiàn)RFID測(cè)試系統(tǒng)的構(gòu)建。關(guān)鍵詞: RFID測(cè)試;PXI平臺(tái);板載FPGA RFID測(cè)試需求及現(xiàn)狀作為無(wú)線通訊的新興領(lǐng)域之一,RFID技術(shù)在具有無(wú)線通訊技術(shù)所共有的特性之外,又有著其獨(dú)有的特殊性,其中最為重要的是標(biāo)準(zhǔn)的多樣化。國(guó)際上制定RFID標(biāo)準(zhǔn)的組織比較著名的有三個(gè):ISO,美國(guó)的EPC global以及日本的Ubiquitous ID Center,目前已定義的RFID標(biāo)準(zhǔn),包括工作頻率在低頻(120-134kHz),高頻(13
  • 關(guān)鍵字: 0701_A  PXI平臺(tái)  RFID測(cè)試  板載FPGA  測(cè)量  測(cè)試  雜志_技術(shù)長(zhǎng)廊  模塊  
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