rfid測(cè)試 文章 進(jìn)入rfid測(cè)試技術(shù)社區(qū)
安捷倫一致性認(rèn)證測(cè)試系統(tǒng)協(xié)助實(shí)現(xiàn)中國國產(chǎn)NFC控制芯片通過NFC論壇認(rèn)證
- 安捷倫科技公司(NYSE:A)宣布近期由上海復(fù)旦微電子集團(tuán)(FMSH)開發(fā)的FM1930 近場(chǎng)通信(NFC)控制芯片成功基于安捷倫RIDER T3111S RFID HF 一致性測(cè)試系統(tǒng)平臺(tái)通過NFC Forum (NFC 論壇)認(rèn)證。該認(rèn)證項(xiàng)目由上海集成電路技術(shù)與產(chǎn)業(yè)促進(jìn)中心(ICC)和上海同耀實(shí)驗(yàn)室共同承擔(dān)。
- 關(guān)鍵字: 安捷倫 RFID測(cè)試 復(fù)旦微電子 集成電路
泰克挑戰(zhàn)RFID測(cè)試三道難關(guān)
- 電子產(chǎn)品世界,為電子工程師提供全面的電子產(chǎn)品信息和行業(yè)解決方案,是電子工程師的技術(shù)中心和交流中心,是電子產(chǎn)品的市場(chǎng)中心,EEPW 20年的品牌歷史,是電子工程師的網(wǎng)絡(luò)家園
- 關(guān)鍵字: RFID測(cè)試 RTSA 泰克 物聯(lián)網(wǎng)
RFID標(biāo)簽測(cè)試技術(shù)
- 電子產(chǎn)品世界,為電子工程師提供全面的電子產(chǎn)品信息和行業(yè)解決方案,是電子工程師的技術(shù)中心和交流中心,是電子產(chǎn)品的市場(chǎng)中心,EEPW 20年的品牌歷史,是電子工程師的網(wǎng)絡(luò)家園
- 關(guān)鍵字: 標(biāo)簽 RFID RFID測(cè)試
Rewe 采用遠(yuǎn)距離實(shí)時(shí)定位RFID系統(tǒng)
- 電子產(chǎn)品世界,為電子工程師提供全面的電子產(chǎn)品信息和行業(yè)解決方案,是電子工程師的技術(shù)中心和交流中心,是電子產(chǎn)品的市場(chǎng)中心,EEPW 20年的品牌歷史,是電子工程師的網(wǎng)絡(luò)家園
- 關(guān)鍵字: RFID測(cè)試 實(shí)時(shí)定位 配送中心 倉庫管理
采用NI模塊化儀器構(gòu)建業(yè)界領(lǐng)先的RFID測(cè)試系統(tǒng)
- 摘要:在NI模塊化儀器結(jié)合虛擬儀器的構(gòu)架上,我們?cè)谳^短的時(shí)間內(nèi)成功研制出了全球第一臺(tái)擁有微秒級(jí)實(shí)時(shí)應(yīng)答能力,且能進(jìn)行完整的物理層及協(xié)議層測(cè)試的RFID測(cè)試系統(tǒng)。該系統(tǒng)的推出彌補(bǔ)了RFID測(cè)試領(lǐng)域的空白,對(duì)比于傳統(tǒng)的測(cè)試儀器,無論是在功能還是性能上,該系統(tǒng)均處于業(yè)界領(lǐng)先地位,目前已成功應(yīng)用于全球范圍內(nèi)的多家RFID領(lǐng)域的領(lǐng)先企業(yè),如TI等。本文主要介紹如何利用NI的優(yōu)勢(shì)技術(shù),具體實(shí)現(xiàn)RFID測(cè)試系統(tǒng)的構(gòu)建。 正文:RFID技術(shù)及其測(cè)試RFID技術(shù)簡(jiǎn)介RFID是Radio Frequency Identif
- 關(guān)鍵字: NI模塊 RFID測(cè)試 測(cè)量 測(cè)試 模塊
采用模塊化儀器構(gòu)建RFID測(cè)試系統(tǒng)
- 摘要: 本文主要介紹如何利用NI的優(yōu)勢(shì)技術(shù),具體實(shí)現(xiàn)RFID測(cè)試系統(tǒng)的構(gòu)建。關(guān)鍵詞: RFID測(cè)試;PXI平臺(tái);板載FPGA RFID測(cè)試需求及現(xiàn)狀作為無線通訊的新興領(lǐng)域之一,RFID技術(shù)在具有無線通訊技術(shù)所共有的特性之外,又有著其獨(dú)有的特殊性,其中最為重要的是標(biāo)準(zhǔn)的多樣化。國際上制定RFID標(biāo)準(zhǔn)的組織比較著名的有三個(gè):ISO,美國的EPC global以及日本的Ubiquitous ID Center,目前已定義的RFID標(biāo)準(zhǔn),包括工作頻率在低頻(120-134kHz),高頻(13
- 關(guān)鍵字: 0701_A PXI平臺(tái) RFID測(cè)試 板載FPGA 測(cè)量 測(cè)試 雜志_技術(shù)長廊 模塊
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rfid測(cè)試介紹
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