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愛德萬測試發(fā)表全新多功能存儲器測試系統(tǒng)T5833,同時支持Mobile DRAM與NAND閃存測試

  •   2015 年6 月16 日,全球領(lǐng)先的半導體測試設(shè)備供應(yīng)商愛德萬測試發(fā)表全新存儲器測試系統(tǒng)T5833,新系統(tǒng)同時支持DRAM 與NAND 閃存器件的晶圓測試及后道封裝測試,可滿足低成本大規(guī)模量產(chǎn)測試需求。T5833 預定本月開始出貨。   隨著移動電子設(shè)備銷售量的不斷攀升,主要搭載于智能手機及平板電腦上的DRAM、NAND 閃存與多芯片封裝存儲器 (MCP) 正朝著快速提升速度與容量的方向發(fā)展,這個趨勢也同樣顯見于網(wǎng)絡(luò)和云端服務(wù)器市場。然而,當今存儲器種類繁多,測試成本是一大障礙,因此芯片制造商急需
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