首頁　 資訊　 商機(jī) 　 下載　 拆解 　 高校　 招聘 　 雜志　 會展　 EETV　 百科 　 問答　 電路圖　 工程師手冊 　 Datasheet　 100例 　 活動中心　 E周刊閱讀 　 樣片申請
EEPW首頁 >> 主題列表 >> x光透視

半導(dǎo)體三極管的失效分析與可靠性研究

  • 三極管在電路中主要起放大和開關(guān)作用，產(chǎn)品在實(shí)際應(yīng)用中失效多單，經(jīng)分析主要故障為短路與開路失效。通過X光、CT掃描、開封等方法分析研究，發(fā)現(xiàn)此故障為焊接不良、塌絲導(dǎo)致。對全流程包含設(shè)備的生產(chǎn)環(huán)節(jié)進(jìn)行整改，并通過優(yōu)化檢測方法、增加顯微鏡檢查以及X光全檢等檢測設(shè)備，提高產(chǎn)品可靠性。
  • 關(guān)鍵字： 虛焊  硅碎  塌絲  顯微鏡  X光透視  測試方法  202201  
共1條 1/1 1

x光透視介紹

您好，目前還沒有人創(chuàng)建詞條x光透視!
歡迎您創(chuàng)建該詞條，闡述對x光透視的理解，并與今后在此搜索x光透視的朋友們分享。    創(chuàng)建詞條

熱門主題

樹莓派    linux   
關(guān)于我們 - 廣告服務(wù) - 企業(yè)會員服務(wù) - 網(wǎng)站地圖 - 聯(lián)系我們 - 征稿 - 友情鏈接 - 手機(jī)EEPW
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產(chǎn)品世界》雜志社 版權(quán)所有 北京東曉國際技術(shù)信息咨詢有限公司
備案 京ICP備12027778號-2 北京市公安局備案：1101082052    京公網(wǎng)安備11010802012473