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C-V測量技術、技巧與陷阱——常見C-V測量誤差 I
- 偏移[1]和增益誤差[2](如圖7所示)是C-V測量中最常見的誤差。X軸以對數(shù)標度的方式給出了電容的真實值,大小范圍從皮法到納法。Y軸表示系統(tǒng)
- 關鍵字: C-V測量技術技巧與陷阱測量誤
C-V測量技術、技巧與陷阱——常見C-V測量誤差II
- 線纜長度補償是一種經(jīng)常被忽視的校正技術。它是針對儀器廠商提供的某些特殊線纜進行相位偏移校正的。交流信號沿著線纜傳輸需要一定的時間,
- 關鍵字: C-V測量技術技巧與陷阱測量誤
C-V測量技術、技巧與陷阱——基于數(shù)字源表的準靜態(tài)電容測
- 在準靜態(tài)電容測量[1]中,我們通過測量電流和電荷來計算電容值。這種斜率方法使用簡單,但是它的頻率范圍有限(1~10Hz),因而只能用于一些
- 關鍵字: C-V測量技術數(shù)字源表靜態(tài)電
C-V測量技術、技巧與陷阱—— C-V測量方法與應用的匹配
- 交流阻抗技術是最常用的電容測量技術[1]。它最適合于一般的低功率門電路,也適用于大多數(shù)測試結構和大多數(shù)探針。其優(yōu)勢在于所需的設備相對
- 關鍵字: C-V測量技術匹
C-V測量技術、技巧與陷阱—— C-V測量參數(shù)提取的局限性
- 在探討C-V測試系統(tǒng)的配置方法之前,了解半導體C-V測量技術[1]的局限性是很重要的:·電容:從10fF到1微法·電阻:從01歐姆到100M歐姆·
- 關鍵字: C-V測量技術參數(shù)提
C-V測量技術、技巧與陷阱——C-V測量技術連接與校正 I
- 盡管很多C-V測量技術本身相對簡單,但是以一種能夠確保測量質量的方式實現(xiàn)C-V測試儀與探針臺的連接卻不是那么簡單。目前探針臺使用的機械手
- 關鍵字: C-V測量技術校
Type-C接口內部構造及原理詳解
- 《USBType-CCableandConnectorSpecification》一共將近200頁,相信時間且有耐心看完的工程師沒有幾個吧?若是沒有中文版的那會更...
- 關鍵字: Type-C接口內部構造原理詳
USB-IF介紹不同USB接口標準的區(qū)別
- USBType-C是一個受人歡迎的全新接口標準,但想要清楚地對其進行解釋可不是件容易的事。Type-C被描述為10GbpsUSB3.1配置的一種補充,...
- 關鍵字: USB-IFUSB接口標
USB-KEY原理簡要說明
- 一、usbkey實現(xiàn)身份認證原理采用沖擊響應的認證方法,登錄時在服務器端和客戶端同時進行計算,客戶端計算前要先驗證USERPIN,通過后在...
- 關鍵字: USB-KEY原理簡要說
什么是Type-C?
- Type-C的誕生并不久遠,在2013年底Type-C連接器的渲染圖就出來了,2014年USB3.1標準中就已經(jīng)搞定。它是一種新型USB線纜及連接器的規(guī)范...
- 關鍵字: Type-
usb type c介紹
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