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一文帶你了解CMP設(shè)備和材料

發(fā)布人:旺材芯片 時間:2023-07-19 來源:工程師 發(fā)布文章

來源:馭勢資本

文章大綱

  • CMP:晶圓平坦化的關(guān)鍵工藝

  • CMP設(shè)備市場快速成長,國產(chǎn)替代快速前行

  • CMP 材料用量大幅提升,國內(nèi)龍頭廠商持續(xù)破局

CMP

1.CMP:晶圓平坦化的關(guān)鍵工藝


1.1. CMP 工藝是晶圓全局平坦化的關(guān)鍵工藝


晶圓制造流程可以廣義地分為晶圓前道和后道 2 個環(huán)節(jié),其中前道工藝在晶圓廠中進行,主要負責(zé)晶圓的加工制造,后道工藝在封測廠中進行,主要負責(zé)芯片的封裝測試,其中,化學(xué)機械拋光(CMP)是實現(xiàn)晶圓全局平坦化的關(guān)鍵工藝,指的是通過化學(xué)腐蝕與機械研磨的協(xié)同配合作用,實現(xiàn)晶圓表面多余材料的高效去除與全局納米級平坦化,是先進集成電路制造前道工序、先進封裝等環(huán)節(jié)必需的關(guān)鍵制程工藝。 

在前道加工領(lǐng)域:CMP 主要負責(zé)對晶圓表面實現(xiàn)平坦化。晶圓制造前道加工環(huán)節(jié)主要包括7個相互獨立的工藝流程:光刻、刻蝕、薄膜生長、擴散、離子注入、化學(xué)機械拋光、金屬化 CMP 則主要用于銜接不同薄膜工藝,其中根據(jù)工藝段來分可以分為前段制程(FEOL)和后段制程(BEOL),前段制程工藝主要為 STI-CMP 和 Poly-CMP,后段制程工藝主要為介質(zhì)層 ILD-CMP、IMD-CMP 以及金屬層 W-CMP、Cu-CMP 等。



在后道封裝領(lǐng)域:CMP 工藝也逐漸被用于先進封裝環(huán)節(jié)的拋光,如硅通孔(TSV)技術(shù)、扇出(Fan-Out)技術(shù)、2.5D 轉(zhuǎn)接板(interposer)、3D IC 等封裝技術(shù)中對引線尺寸要求更小更細,因此會引入刻蝕、光刻等工藝,而 CMP 作為每道工藝間的拋光工序,也得以廣泛應(yīng)用于先進封裝中。 


如果晶圓制造過程中無法做到納米級全局平坦化,既無法重復(fù)進行光刻、刻蝕、薄膜和摻雜等關(guān)鍵工藝,也無法將制程節(jié)點縮小至納米級的先進領(lǐng)域。隨著超大規(guī)模集成電路制造的線寬不斷細小化,制造工藝不斷向先進制程節(jié)點發(fā)展,平坦化的精度要求也不斷提高,CMP 步驟也會不斷增加,從而大幅刺激了集成電路制造商對 CMP 設(shè)備的采購和升級需求。


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CMP(化學(xué)機械拋光)相較于傳統(tǒng)方法有更高的加工精度和加工速度。傳統(tǒng)的機械拋光和化學(xué)拋光方法,去除速率、拋光質(zhì)量均無法滿足先進芯片量產(chǎn)需求。而 CMP 技術(shù)利用磨損中的“軟磨硬”原理,即用較軟的材料來進行拋光以實現(xiàn)高質(zhì)量的表面拋光,避免了由單純機械拋光造成的表面損傷和由單純化學(xué)拋光易造成的拋光速度慢、表面平整度和拋光一致性差等缺點,是目前唯一能兼顧表面全局和局部平坦化的拋光技術(shù),在先進集成電路制造中被廣泛應(yīng)用。


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1.2. CMP 工藝技術(shù)原理 


CMP 設(shè)備主要依托 CMP 技術(shù)的化學(xué)-機械動態(tài)耦合作用原理,通過化學(xué)腐蝕與機械研磨的協(xié)同配合作用,實現(xiàn)晶圓表面多余材料的高效去除與全局納米級平坦化(全局平整落差5nm以內(nèi)的超高平整度)。CMP 拋光過程可以分為化學(xué)過程和物理過程?;瘜W(xué)過程指:研磨液中化學(xué)成分與硅片表面材料產(chǎn)生化學(xué)反應(yīng),通過將不溶物轉(zhuǎn)化為易溶物或軟化高硬度物質(zhì),生成比較容易去除的物質(zhì)。物理過程指:研磨液中的磨粒與硅片表面材料發(fā)生機械物理摩擦,從硅片表面去除這些化學(xué)反應(yīng)物,溶入流動的液體中帶走。


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CMP 具體步驟: 


第一步:將硅片固定在拋光頭最下面,拋光墊放置在研磨盤上; 

第二步:旋轉(zhuǎn)的拋光頭以一定壓力壓在旋轉(zhuǎn)的拋光墊上,在硅片表面和拋光墊之間加入流動的研磨液(由亞微米或納米磨粒和化學(xué)溶液組成),研磨液在拋光墊的傳輸和離心力的作用下均勻涂布,在硅片和拋光墊之間形成一層液體薄膜; 

第三步:通過化學(xué)去膜和機械去膜的交替過程實現(xiàn)平坦化。


CMP 主要技術(shù)參數(shù): 


研磨速率:單位時間內(nèi)磨除材料的厚度; 

?平整度:硅片某處 CMP 前后臺階高度之差/CMP 之前臺階高度*100% ; 

?研磨均勻性:包括片內(nèi)均勻性和片間均勻性。

片內(nèi)均勻性=同個晶圓研磨速率的標準差/研磨速率;

片間均勻性=不同晶圓同一條件下研磨速率標準差/平均研磨速率 

?缺陷量:CMP 工藝造成的硅片表面缺陷,一般包括擦傷、凹陷、侵蝕、殘留物和顆粒污染,直接影響成品率。


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1.3. CMP 設(shè)備及材料對工藝效果有關(guān)鍵影響


CMP 工藝離不開設(shè)備及材料,其中材料包括拋光墊和拋光液,設(shè)備和材料對工藝效果有關(guān) 鍵影響,CMP 效果主要影響因素如下
?設(shè)備參數(shù):拋光時間、研磨盤轉(zhuǎn)速、拋光頭轉(zhuǎn)速、拋光頭搖擺度、背壓、下壓力等;
研磨液參數(shù):磨粒大小、磨粒含量、磨粒凝聚度、酸堿度、氧化劑含量、流量、粘滯 系數(shù)等 ;
?拋光墊參數(shù):硬度、密度、空隙大小、彈性等;
?CMP 對象薄膜參數(shù):種類、厚度、硬度、化學(xué)性質(zhì)、圖案密度等。

CMP 材料主要包括拋光液、拋光墊、鉆石碟、清洗液等,對 CMP 工藝效應(yīng)均有關(guān)鍵影響。 


1. CMP 拋光墊:主要作用是儲存和運輸拋光液、去除磨屑和維持穩(wěn)定的拋光環(huán)境等; 


2. CMP 拋光液:是研磨材料和化學(xué)添加劑的混合物,可使晶圓表面產(chǎn)生一層氧化膜,再由拋光液中的磨粒去除,達到拋光的目的。 


3. CMP 鉆石碟:是 CMP 工藝中必不可少的耗材,用于維持拋光墊表面一定的粗糙狀態(tài),通常與 CMP 拋光墊配套使用。 


4. CMP 清洗液:主要用于去除殘留在晶圓表面的微塵顆粒、有機物、無機物、金屬離子、氧化物等雜質(zhì),滿足集成電路制造對清潔度的極高要求,對晶圓生產(chǎn)的良率起到了重要的作用。


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CMP設(shè)備是 CMP 技術(shù)應(yīng)用的載體,集摩擦學(xué)、表/界面力學(xué)、分子動力學(xué)、精密制造、化學(xué)化工、智能控制等多領(lǐng)城最先進技術(shù)于一體,是集成電路制造設(shè)備中較為復(fù)雜和研制難度較大的設(shè)備之一。同時,由于銅連線在微處理器生產(chǎn)中廣泛引用,因此唯一能夠拋光銅金屬層的 CMP 設(shè)備更成為芯片制造廠商必需的重要工具。


CMP 設(shè)備主要分為拋光部分和清洗部分,拋光部分由拋光頭、研磨盤等組成,清洗部分由 清洗刷、供液系統(tǒng)等組成
拋光頭:通常具有真空吸附裝臵用于吸附晶圓,防止晶圓在拋光過程中產(chǎn)生位移,同時向下施加壓力。
研磨盤:起到對晶圓的支撐作用,承載拋光墊并帶動其轉(zhuǎn)動并對拋光頭壓力大小、轉(zhuǎn)動 速度、開關(guān)動作等進行控制。
清洗刷:用于 CMP 后清洗環(huán)節(jié),在CMP后去除顆粒和其他化學(xué)污染物,分為清潔— 沖洗—干燥環(huán)節(jié),保證晶圓干進干出。
終點檢測設(shè)備:終點檢測設(shè)備用于檢測 CMP 工藝是否把材料磨到正確的厚度,避免過?。ㄎ雌鸬綊伖庾饔茫┘斑^厚(損失下層材料)帶來的負面影響,通常使用電性能及光學(xué)兩種測量方式。

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1.4. 先進制程推進帶動CMP設(shè)備及材料需求


當(dāng)前 CMP 已經(jīng)廣泛應(yīng)用于集成電路制造中對各種材料的高精度拋光。按照被拋光的材料類型,具體可以劃分為三大類:(1)襯底:主要是硅材料。(2)金屬:包括 Al/Cu 金屬互聯(lián)層,Ta/Ti/TiN/TiNxCy 等擴散阻擋層、粘附層。(3)介質(zhì):包括 SiO2/BPSG/PSG 等ILD(層間介質(zhì)),SI3N4/SiOxNy 等鈍化層、阻擋層。在0.25μ節(jié)點后的 Al 布線和進入0.13μ節(jié)點后的 Cu布線,CMP 技術(shù)的重要性持續(xù)凸顯:

90~65nm 節(jié)點:隨著銅互連技術(shù)和低 k 介質(zhì)(一種絕緣材料)的廣泛采用,淺槽隔離(STI)、 絕緣膜、銅互連層是 CMP 的主要研磨對象。

28nm 節(jié)點:邏輯器件的晶體管中引入高 k 金屬柵結(jié)構(gòu)(HKMG),因而同時引入了兩個關(guān)鍵的平坦化應(yīng)用,包括虛擬柵開口 CMP 工藝和替代金屬柵 CMP 工藝。32nm 及 22nm 節(jié)點:銅互連低 k 介質(zhì)集成的 CMP 工藝技術(shù)支持 32nm 和 22nm 器件的量產(chǎn),其中開始出現(xiàn)的 FinFET 晶體管添加了虛擬柵平坦化工藝,這是實現(xiàn)后續(xù) 3D 結(jié)構(gòu)刻蝕 的關(guān)鍵技術(shù)。

隨著摩爾定律的推進,當(dāng)制造工藝不斷向先進制程節(jié)點發(fā)展時,對 CMP 技術(shù)的要求也相應(yīng)提高。當(dāng)制程節(jié)點發(fā)展至 7nm 以下時,芯片制造過程中 CMP 的應(yīng)用在最初的氧化硅 CMP和鎢 CMP 基礎(chǔ)上新增了包含氮化硅CMP、鰭式多晶硅 CMP、鎢金屬柵極 CMP 等先進CMP 技術(shù),所需的拋光技術(shù)也增加至 30 余步,大幅刺激了集成電路制造商對 CMP 設(shè)備及材料的采購和升級需求。

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CMP

2. CMP 設(shè)備市場快速成長,國產(chǎn)替代快速前行


2.1. 行業(yè)高景氣帶動晶圓廠擴大資本開支,設(shè)備需求大幅提高


在 5G、物聯(lián)網(wǎng)、汽車電子、云計算等需求的帶動下,半導(dǎo)體市場需求持續(xù)增長。2020 年盡管受到疫情的影響,全球半導(dǎo)體市場規(guī)模依然同比增長 6.8%,達到了 4404 億美元,預(yù)計 2021 年、2022 年全球半導(dǎo)體市場規(guī)模分別為 5530 億美元、6015 億美元,同比分別增長25.6%、8.8%。從分地區(qū)來看,2021 年和 2022 年亞太市場規(guī)模增速將高于全球平均,分別為 26.7%、8.4%,在全球市場的占比分別為 62.11%、61.90%。


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中國大陸的半導(dǎo)體設(shè)備銷售額從2013年的33億美元增長至2020年的187億美元,年復(fù)合增長率高達 27.70%,遠超全球市場增速。從中國市場占比來看,中國大陸半導(dǎo)體設(shè)備銷售額在全球占比從 2013 年的 10.40%提高到 2020 年的 26.25%。 


2021 年,中國大陸第二次成為全球半導(dǎo)體設(shè)備的最大市場,銷售額增長了 58%,達到 296億美元,在全球市場占比高達 28.7%,占比進一步提高。


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2.2. 中國大陸 CMP 設(shè)備市場規(guī)模接近 8 億美元


根據(jù) Gartner 數(shù)據(jù),CMP 設(shè)備在半導(dǎo)體晶圓制造設(shè)備中占比為 3%,結(jié)合 SEMI 的數(shù)據(jù),2020-2021 年全球晶圓制造設(shè)備市場規(guī)模 612 億美元、880 億美元,按照 3%的比例測算,CMP 設(shè)備對應(yīng)市場規(guī)模為 18.4 億美元、26.4 億美元。


根據(jù) SEMI 數(shù)據(jù),2021 年中國大陸在半導(dǎo)體設(shè)備在全球市場占比高達 28.7%,按次比例測算 CMP 設(shè)備的占比,預(yù)計 2021年中國大陸 CMP 設(shè)備市場規(guī)模 7.6 億美元。


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2.3. CMP 設(shè)備技術(shù)壁壘高,海外龍頭企業(yè)長期壟斷 


復(fù)雜的技術(shù)工藝與高難度的研發(fā)是 CMP 設(shè)備的主要壁壘。CMP 設(shè)備是集機械學(xué)、流體力學(xué)、材料化學(xué)、精細加工、控制軟件等多領(lǐng)域最先進技術(shù)于一體的設(shè)備,需保持精密的機械控制與干濕化學(xué)和機械間的平衡,具有較為復(fù)雜的研制難度,對技術(shù)、工藝、專利等有嚴格的要求,廠商競爭存在較高的技術(shù)壁壘。 


專利也是 CMP 設(shè)備的一大準入壁壘。2013 年之后,CMP 專利申請量緩慢增長,而 CMP后清洗專利申請量卻處于下滑狀態(tài)。全球 CMP 專利申請量總體保持平穩(wěn),反映了當(dāng)前全球CMP 技術(shù)未存在重大技術(shù)革新,后來者要想追趕必須直面強大的專利壁壘。 

CMP 市場被海外壟斷,市場集中度高。CMP 為多學(xué)科交叉,行業(yè)進入壁壘較高,整體產(chǎn)業(yè)呈日美企業(yè)壟斷的格局。國內(nèi)企業(yè)進入時間相對較晚,因此整體國產(chǎn)化率偏低。在 14nm以下最先進制程工藝的大生產(chǎn)線上所應(yīng)用 CMP 設(shè)備僅由美國應(yīng)用材料和日本荏原兩家國際巨頭提供。根據(jù) Gartner 研究數(shù)據(jù),2019 年美國應(yīng)用材料和日本荏原的 CMP 設(shè)備銷售額分別為 10.43 億美元、3.725 億美元,各占 70%、25%的全球市場份額。2017、2018、2019 三年,兩家公司合計占有的市場份額分別為 98%、90%、95%,CMP 設(shè)備市場呈現(xiàn)出高度壟斷的競爭格局。


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應(yīng)用材料(AMAT)是全球最大的半導(dǎo)體設(shè)備供應(yīng)商之一,業(yè)務(wù)涵蓋半導(dǎo)體設(shè)備、太陽能、顯示器、自動化軟件、卷對卷真空鍍膜等多個領(lǐng)域。在半導(dǎo)體設(shè)備業(yè)務(wù)版塊,公司制定了PPACt 戰(zhàn)略旨在通過并行而非串行的創(chuàng)新來推動芯片的能效、性能、面積、成本和上市時間革新。公司產(chǎn)品覆蓋沉積、刻蝕、摻雜、CMP 多工藝環(huán)節(jié)。 


根據(jù) Gartner 數(shù)據(jù),2020 年應(yīng)用材料在刻蝕、沉積、CMP、離子注入、工藝控制領(lǐng)域的全球市場份額分別達到了 17%、43%、64%、55%和 12%。2020 年公司總體收入 172 億美元,半導(dǎo)體裝備銷售收入合計 113.67 億美元,同比增長 26%,其中 CMP 設(shè)備銷售收入11.33 億美元,同比增長 18%。


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應(yīng)用材料自 2003 年開始主攻 12 英寸設(shè)備,目前主打 MIRRA 和 REFLEXION 兩個系列,其中 MIRRA 主要定位于 8 英寸 CMP 平臺,REFLEXION主要定位于 12 寸 CMP 平臺。目前,應(yīng)用材料 CMP 設(shè)備已經(jīng)可以應(yīng)用最先進的 5nm 制程。


Ebara 成立于 1912 年,目前旗下有 3 塊業(yè)務(wù),分別是:(1)流體機械及系統(tǒng)(2)環(huán)境工程,包括市政垃圾焚燒廠、工業(yè)垃圾焚燒廠、水處理廠等;(3)精密電子,包括干式真空泵、CMP(化學(xué)機械拋光)設(shè)備、電鍍設(shè)備及排氣處理設(shè)備公司在液化天然氣泵領(lǐng)域全球市占率第一,在 CMP 系統(tǒng)和干泵領(lǐng)域全球市占率第二。2020 年公司營業(yè)收入為 49.1 億美元,其中精密器械部門中 CMP 設(shè)備收入約 5.14 億美元,同比增長 25.8%,占全球 CMP 市場份額的 29.1%,僅次于應(yīng)用材料。


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日本荏原是 CMP 領(lǐng)域干進/干出(dry-in/dry-out)專利的開拓者,獨立研發(fā)的 200mm 和300 mm CMP 拋光設(shè)備均具有高可靠性和高生產(chǎn)率。F-REX 系列 CMP 系統(tǒng)可實現(xiàn) 10-20nm 節(jié)點的表面平整度控制,用于 IC 制造的氧化物、ILD、STI、鎢和銅表面處理。FREX200工具代表了適用于 200 mm 晶圓的最新 CMP 技術(shù)(也可用 150 mm)。它采用Ebara 原創(chuàng)的干進干出(Dry-in/Dry-out)晶圓處理技術(shù)專利。清潔模塊集成在 CMP 工具內(nèi),從而將干晶片輸送到后續(xù)工藝中。目前,日本荏原的 CMP 設(shè)備已經(jīng)可以應(yīng)用在部分材質(zhì)的5nm 制程工藝。


2.4. 華海清科為代表的的國產(chǎn)廠家已經(jīng)具備 12 寸 CMP 設(shè)備國產(chǎn)替代能力 


國內(nèi) CMP 設(shè)備的主要研發(fā)生產(chǎn)單位有華海清科等。華海清科是國產(chǎn) 12 英寸和 8 英寸 CMP 設(shè)備的主要供應(yīng)商,是目前國內(nèi)唯一實現(xiàn)了 12 英寸CMP 設(shè)備量產(chǎn)銷售的半導(dǎo)體設(shè)備供應(yīng)商。


公司 CMP 產(chǎn)品在已量產(chǎn)的制程(14nm 以上)及工藝應(yīng)用中已經(jīng)可以實現(xiàn)對行業(yè)龍頭公司產(chǎn)品的替代。但在 14nm 以下制程工藝方面與行業(yè)龍頭公司產(chǎn)品尚存在一定技術(shù)差距,存在一定的提升空間:①在豎直旋轉(zhuǎn)技術(shù)體系(VRM)的工藝方面,14nm 以下制程工藝中與行業(yè)龍頭公司產(chǎn)品存在一定差距,龍頭企業(yè)最先進的 CMP 后處理單元的顆粒殘留可已更低;


②公司產(chǎn)品在 28nm-14nm 制程中金屬離子控制方面在與行業(yè)龍頭公司水平一致,均能達到金屬離子含量不超過每平方厘米含有的(特定)原子數(shù)為 5 乘以 10 的 10 次方個的目標,但在更先進制程工藝中行業(yè)龍頭公司產(chǎn)品的技術(shù)表現(xiàn)水平更高。


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CMP

3. CMP 材料用量大幅提升,國內(nèi)龍頭廠商持續(xù)破局 


3.1. 半導(dǎo)體材料市場持續(xù)擴張,進口替代趨勢明確 


受益于晶圓廠積極擴產(chǎn)以及半導(dǎo)體工藝升級,半導(dǎo)體材料市場規(guī)模持續(xù)增長。據(jù)國際半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)協(xié)會(SEMI)發(fā)布數(shù)據(jù)顯示,全球半導(dǎo)體材料市場規(guī)模始終保持在半導(dǎo)體總規(guī)模的11%-13%左右;2021 年全球半導(dǎo)體材料市場規(guī)模達 643 億美元,較 2020 年的 555 億美元增加 88 億美元,同比增長 15.9%,再創(chuàng)新高。 


中國半導(dǎo)體材料市場增速高于全球增速,進口替代趨勢明確。中國晶圓制造產(chǎn)業(yè)近年來迎來快速發(fā)展,全球半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)東移趨勢明確,中國大陸晶圓廠產(chǎn)能持續(xù)提升,對上游材料產(chǎn)生大量本土化配套需求。根據(jù) SEMI數(shù)據(jù),2016-2019 年國內(nèi)半導(dǎo)體材料占全球市場份額約 16.3%,位居前三,2021 年中國大陸半導(dǎo)體材料市場規(guī)模達 119.3 億美元,首次突破100 億美元,同比增長 21.9%,平均增速高于全球。


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3.2. 集成電路工藝升級,CMP 材料用量大幅提升


CMP 拋光材料是 CMP 工藝中用到材料的總稱,在半導(dǎo)體材料成本中占比約 7%。其中,拋光液和拋光墊為 CMP 工藝的核心材料,在 CMP 拋光材料中占比分別達到 49%和 33%。 


據(jù) Techcet 數(shù)據(jù)顯示,受益于 3D Nand 以及先進制程工藝的快速發(fā)展,CMP 材料需求量的大幅提升,全球拋光液/拋光墊市場規(guī)模有望于 2020 年的16.6/10.2 億美元分別增長至2025年 22.7/13.5 億美元,2021-2025 年 CAGR 分別達 6%/5.1%。2020 年國內(nèi) CMP 拋光材料市場規(guī)模約為 32 億元,近五年復(fù)合增速為10%左右,國內(nèi)拋光液/拋光墊市場分別為20/12 億元,國內(nèi)市場受益于下游晶圓廠擴建及國產(chǎn)化率提升,增速有望高于全球市場,2025 年拋光液/拋光墊市場有望占全球市場的 25%,分別為 40/27 億元,2021-2025 年CAGR 達 15%。



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美系廠商壟斷市場,國內(nèi)廠商迎來國產(chǎn)化+差異化競爭機遇。目前半導(dǎo)體材料整體的國產(chǎn)化率僅 10%,其中,拋光墊市場呈現(xiàn)一家獨大的市場格局,根據(jù) Semi 統(tǒng)計,陶氏化學(xué)占有絕對主導(dǎo)地位,2018 年全球市占率達 79%;拋光液行業(yè)龍頭 Cabot 微電子 2020 年市占率達 36%,差異化競爭使得市場格局相對分散。隨著半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)逐漸向中國大陸轉(zhuǎn)移,國內(nèi)半導(dǎo)體材料需求持續(xù)增長,國產(chǎn)替代需求強烈。隨著需求的多樣化和對品質(zhì)要求的提高,未來拋光材料將逐步向?qū)S没⒍ㄖ苹较虬l(fā)展,這為立足國內(nèi)市場的國產(chǎn)廠商提供了與國際龍頭差異化競爭的機遇。


先進制程及工藝對晶圓平整度要求更高,拋光次數(shù)與材料種類等隨之增長,推動 CMP 材料用量逐年增長: 


1)邏輯芯片中,制程的縮小帶動 CMP 工藝步驟增加。晶圓在生產(chǎn)過程根據(jù)不同工藝制程和技術(shù)節(jié)點的要求,會經(jīng)歷幾道至幾十道不等的 CMP 工藝步驟。隨著制造工藝節(jié)點的縮小,對邏輯芯片平坦化程度要求提高,演進出的先進邏輯芯片工藝拋光材料提出新需求,CMP步驟增加,CMP 材料需求量增大。據(jù) Cabot 披露,先進制程 7nm 工藝的 CMP 步驟為 30步,成熟制程 90nm 工藝 CMP 步驟為 12 步,拋光次數(shù)倍數(shù)級增長,制程節(jié)點的進步推動 CMP 拋光材料需求量的增長。 


2)存儲芯片由 2D NAND 向 3D NAND 技術(shù)變革帶來了 CMP 工藝步數(shù)的提升。從 2D NAND 到 3D NAND 的升級過程中,3D NAND 工藝通過堆疊內(nèi)存顆粒的方式增加了存儲內(nèi),帶動了 CMP 拋光耗材的用量需求,增加了工藝難度,CMP 拋光步驟翻倍增長,次數(shù)從 7 次增長到 15 次。同時,3D NAND 技術(shù)中對鎢材料使用也大幅提高,拉動了鎢拋光液的市場需求。


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3.3. CMP 材料具有較高的技術(shù)壁壘和客戶認證壁壘


CMP 行業(yè)涉及領(lǐng)域廣泛,交叉包含了摩擦學(xué)、物理學(xué)、機械學(xué)和化學(xué)反應(yīng)熱力學(xué)等眾多學(xué)科,整體技術(shù)壁壘較高,存在產(chǎn)業(yè)規(guī)模大、技術(shù)門檻高、研發(fā)投入大和研究周期長等特點。


國內(nèi)廠商由于進入市場起步時間相對較晚,國產(chǎn)替代市場成長性高。在種類繁多的半導(dǎo)體材料子行業(yè)中,拋光墊、拋光液是最容易被“卡脖子”的領(lǐng)域之一,為實現(xiàn)納米級的打磨技術(shù),對拋光墊和拋光液的要求極為嚴苛。而且隨著制程工藝越來越先進,對這兩種材料的技術(shù)要求也不斷提高。CMP 拋光材料的技術(shù)更新動力源自下游晶圓的技術(shù)更新。晶圓制程不斷提高,為了滿足更細致的工藝,CMP 材料也有著更高的要求,具體體現(xiàn)在兩方面:技術(shù)壁壘和客戶認證。


1)技術(shù)壁壘:外國廠商具備先發(fā)優(yōu)勢,搭建專利壁壘


拋光墊難點主要在于孔隙率和溝槽設(shè)計,以及較高的時間成本。拋光墊難點主要在于孔隙率和溝槽設(shè)計,以及較高的時間成本。拋光墊的孔隙率越高和粗糙度越大,其攜帶拋光液的能力越強。優(yōu)秀的溝槽設(shè)計可以增強儲存、運送拋光液的能力,拋光效率和質(zhì)量都得到提高。此外,研究 CMP 拋光墊的時間成本較高,在設(shè)計 CMP 拋光墊過程中會涉及到物理指標包含硬度、剛性、韌性、彈性模量、剪切模量、密度、可壓縮性等各項機械指標,企業(yè)需要不斷進行試驗摸索工藝指標、產(chǎn)品配方等對物理參數(shù)及性能的影響,結(jié)合考慮材料選擇、溫度選擇、固化時長、攪拌時長等工藝步驟控制進行研發(fā)。同時由于摩爾定律的不斷演變,平均每 18 個月半導(dǎo)體集成電路產(chǎn)品就需要換代一次,因此對上游半導(dǎo)體材料的研發(fā)速度有著較高的要求,加重了后發(fā)企業(yè)進入的資金投入壓力。


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拋光墊是 CMP 工藝中重要耗材之一,但由于國內(nèi)企業(yè)在化學(xué)機械拋光領(lǐng)域起步較晚,專利 技術(shù)積累相對較淺。代表未來趨勢的 12 英寸晶圓用的開窗口拋光墊專利被美國公司占有, 國內(nèi)僅有 DOW 獲得授權(quán)生產(chǎn)銷售。據(jù)《集成電路制造業(yè)用高分子聚合物拋光墊專利分析》 數(shù)據(jù),2003-2009 年為國際申請數(shù)量高峰時段,2010 年后數(shù)量有所下降,但總體變化平穩(wěn), 拋光墊領(lǐng)域仍然是各個公司重點攻略方向。國內(nèi)專利申請數(shù)量于 2008 年逐步攀升,在之后 呈現(xiàn)出波浪式上升的趨勢。


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拋光液的核心技術(shù)運用壁壘體現(xiàn)在產(chǎn)品配方和生產(chǎn)工藝流程兩方面。CMP 拋光液的主要原料包括納米磨料、各種添加劑和超純水,根據(jù)產(chǎn)品應(yīng)用領(lǐng)域的不同,所選用的原料種類也隨之改變,在加料、混合和過濾等關(guān)鍵生產(chǎn)流程中,各種組分的比例、順序、速度和時間等都會影響到最終的產(chǎn)品性能,需要公司不斷優(yōu)化研究來找出最合適的方案,優(yōu)化過程中產(chǎn)品配方的運用體現(xiàn)了公司核心技術(shù)水平,工藝流程作為轉(zhuǎn)化核心技術(shù)為最終產(chǎn)品的實現(xiàn)手段受到公司機密保護,皆為企業(yè)競爭力的體現(xiàn)。


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2)客戶認證壁壘:下游廠商尋求穩(wěn)定,客戶供更換應(yīng)商意愿低

半導(dǎo)體器件對良率有極高的要求,一旦形成穩(wěn)定的供應(yīng)鏈體系,晶圓廠一般不太更換供應(yīng)商。拋光墊對芯片良率影響較大,但成本占比較相對較低,晶圓廠在替換過程中的潛在損失機會成本較大,替換動力較小。拋光液技術(shù)含量高,下游客戶對其實施嚴格的供應(yīng)商認證機制,進行嚴格的供應(yīng)商認證和定期考核。進入晶圓廠供應(yīng)鏈體系需要經(jīng)過審核、送樣、測試等長達 2-3 年的認證環(huán)節(jié)。因此,行業(yè)巨頭一般具有比較穩(wěn)定的下游客戶,容易形成市場壟斷。嚴格來說,半導(dǎo)體材料行業(yè)屬于成熟產(chǎn)業(yè),各領(lǐng)域集中度高,由少數(shù)幾個龍頭企業(yè)占據(jù)絕大部分市場,國內(nèi)僅安集科技、鼎龍股份等極少數(shù)企業(yè)參與競爭。


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3.4. CMP 拋光液:日美廠商壟斷,種類繁多催生差異化競爭機遇 


拋光液是一種水溶性拋光劑,由固體粒子研磨劑、表面活性劑、穩(wěn)定劑、氧化劑等成分構(gòu)成。通過與材料表面產(chǎn)生系列化學(xué)使其形成表面膜,通過成分中的研磨顆粒進行去除,達到拋光目的。通常,拋光液的流速、粘度、溫度、成分、pH 值等都會對去除效果有影響。拋光液種類繁多,根據(jù)應(yīng)用的不同工藝環(huán)節(jié),可以將其分為銅(Cu)拋光液、硅片拋光液、 鎢(W)拋光液、鈷(Co)拋光液、介質(zhì)層拋光液、淺槽隔離(STI)拋光液等。其中銅拋 光液用于集成電路銅互連工藝制程中銅的去除和平坦化,廣泛應(yīng)用于130nm 及以下技術(shù)節(jié)點邏輯芯片的制造工藝;鎢拋光液用于集成電路制造工藝中鎢塞和鎢通孔的平坦化,在邏輯芯片、3D NAND 和 DRAM 芯片上量產(chǎn)使用;硅粗拋光液主要應(yīng)用于硅晶圓的初步加工過程中,硅晶圓是集成電路的基底材料。


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拋光液在 CMP 技術(shù)中至關(guān)重要,在拋光材料中的價值占比達到 49%。拋光液主要原料由納米磨料、添加劑和純水組成,其中納米磨料是決定拋光液性能及拋光效率的關(guān)鍵原料, 占據(jù)拋光液成本的三分之一。在 CMP 過程中拋光液影響著化學(xué)作用與磨粒機械作用程度的比例,很大程度上決定了 CMP 能獲得的拋光表面質(zhì)量和拋光效果。


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由于拋光液種類繁多,市場競爭格局相對較分散。拋光液當(dāng)前的全球主流供應(yīng)商為卡博特(Cabot)、日立(Hitachi)FUJIMI、慧瞻材料(Versum)等,壟斷全球近 65%的市場份額,根 據(jù) Cabot 數(shù)據(jù)統(tǒng)計,2020 年龍頭企業(yè) Cabot 拋光液全球市場占有率達 36%,在中國市場內(nèi)占比達 39%,國內(nèi)代表企業(yè)安集科技在國內(nèi)市場中占 13%份額,其余 48%為其他海外企業(yè)占據(jù)。而當(dāng)前的國內(nèi)晶圓廠需求除了安集科技以外,主要依賴進口。安集科技作為國內(nèi) 拋光液龍頭廠商,在銅制程上有一定優(yōu)勢,2018 年完成了多個具有世界先進水平的集成電路材料的研發(fā)及產(chǎn)業(yè)化應(yīng)用。從安集科技 CMP 拋光液營收來看,2021 年營收為 5.94 億元,同比增長 58.4%

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3.5. CMP 拋光墊:陶氏一家獨大,鼎龍突出重圍


拋光墊是 CMP 工藝中除拋光液之外的另一重要耗材。拋光墊由多孔、有彈性的聚合物材料組成,具有類似海綿的機械特性和多孔特性,且表面有特殊的溝槽,可提高拋光均勻性。其主要作用是儲存和運輸拋光液、去除磨屑和維持穩(wěn)定的拋光環(huán)境,使拋光均勻。


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根據(jù)軟硬的不同,拋光墊可分為硬墊和軟墊兩種


?硬墊:硬度較大、拋光液固體顆粒大,能實現(xiàn)較快的拋光速度, 有較好均勻性和平整度;但表面較粗糙,損傷層較嚴重。 


?軟墊:拋光液利用率高,拋光液中固體顆粒較小,有更好的硅片內(nèi)平均性, 因此可以增加光潔度, 同時去除粗拋時留下的損傷層,但難以實現(xiàn)高效的平坦化加工高硬度拋光墊容易造成晶圓刮傷導(dǎo)致低的良率,較軟的拋光墊則有更高的損耗率,因而通過改變化學(xué)成分與多孔結(jié)構(gòu)控制,根據(jù)工藝需求選擇特定硬度的拋光墊是拋光墊環(huán)節(jié)的工藝難點。在硬墊領(lǐng)域過去制程演進的過程中不同的技術(shù)節(jié)點對于拋光墊的變化不是非常大,龍頭公司相對容易保持產(chǎn)品的一致性、壟斷性、和穩(wěn)定性。


根據(jù)材質(zhì)的不同,拋光墊又能分為聚氨酯拋光墊,無紡布拋光墊和帶絨毛結(jié)構(gòu)的無紡布拋光墊。


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拋光墊產(chǎn)品種類相對單一,市場呈一家獨大的競爭格局。目前全球拋光墊市場主要被美國廠商所壟斷,據(jù)華經(jīng)情報網(wǎng)統(tǒng)計,陶氏化學(xué) 2018 年占全球拋光墊市場份額接近 80%,其中陶氏 20 英寸占據(jù) 85%的市場份額,30 英寸市場占比更高。此外其他供應(yīng)商 Cabot、Thomas WestFOJIBO 等公司所占份額分別為 5%、4%、2%。大陸廠商中,鼎龍股份通過28nm 產(chǎn)品全制程(ILD/SIT/W/Cu/GKMG)的驗證并獲得訂單,針對 14nm 以下先進制程開發(fā)的新產(chǎn)品在客戶端驗證進展順利,已初步打破拋光墊技術(shù)壟斷,產(chǎn)能仍在釋放當(dāng)中。


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陶氏:陶氏化學(xué)成立于 1897 年,是美國第一大、全球第二大化工企業(yè)。陶氏產(chǎn)品種類涉獵廣泛,2019 年拆分后的新陶氏主要業(yè)務(wù)集中于材料科學(xué),其中公司在 CMP 拋光墊市場的絕對統(tǒng)治地位對中國半導(dǎo)體材料影響最大,全球市占率高達 79%。陶氏具備較早進入市場的先發(fā)優(yōu)勢,豐富的技術(shù)累積和先進產(chǎn)品研發(fā)技術(shù)始終引領(lǐng)著市場發(fā)展。陶氏最早推出的IC1000 拋光墊產(chǎn)品已經(jīng)成為了拋光墊行業(yè)的測試標準。陶氏的拋光墊產(chǎn)品隨著工藝發(fā)展,逐步向缺陷率更低、平坦度更高、使用壽命更長的目標靠攏,提高市場工藝技術(shù),維護公司產(chǎn)品的技術(shù)領(lǐng)先優(yōu)勢。在未來這一發(fā)展方向仍將引領(lǐng)整個拋光墊行業(yè)的發(fā)展。


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鼎龍股份:鼎龍股份率先突圍,成為 CMP 拋光墊唯一本土供應(yīng)商,打破國外壟斷局面。公司擬打造平臺型材料企業(yè),在業(yè)務(wù)領(lǐng)域全方位布局,包括打印復(fù)印通用耗材和光電半導(dǎo)體材料兩條主線,公司 2013 年立項 CMP 拋光墊,并被納入了“02”專項,負責(zé)中芯國際子課題 20-14nm 技術(shù)節(jié)點 CMP 拋光片產(chǎn)品的研發(fā)任務(wù)。2020 年 CMP 拋光墊產(chǎn)品已經(jīng)導(dǎo)入國內(nèi)領(lǐng)先下游存儲芯片、功率芯片以及邏輯芯片等重要晶圓制造商,其中公司的 28nm 以上拋光墊獲得國內(nèi)存儲大廠商量產(chǎn)訂單。22 年 3 月公司氧化鋁拋光液產(chǎn)品也通過客戶認證,進入噸級采購階段,實現(xiàn)了關(guān)鍵材料的自主制備。


營收及市占率突飛猛進,國內(nèi)龍頭地位初步顯現(xiàn)。鼎龍股份 2021 年實現(xiàn)營業(yè)收入 23.55 億元,同比增長 29.67%;實現(xiàn)歸母凈利潤 2.13 億元,同比增長 233.60%。拋光墊業(yè)務(wù)營收水平持續(xù)增長,進入放量期。2021 年,拋光墊產(chǎn)品實現(xiàn)銷售收入 3.02 億元,同比增長284%,首度扭虧為盈實現(xiàn)規(guī)模盈利,國內(nèi)市占率由 2020 年不到 10%增長到 2021 年的15%。公司拋光墊產(chǎn)品實現(xiàn)了成熟制程及先進制程的 100%全覆蓋。關(guān)鍵原材料自主化持續(xù)推進,常規(guī)型號原料均實現(xiàn)自研自產(chǎn),極大程度上保障了供應(yīng)鏈的自主性、安全性,并優(yōu)化了產(chǎn)品成本結(jié)構(gòu)。


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