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2008年12月8日,中芯宣布首批45納米產(chǎn)品通過(guò)良率測(cè)試

作者: 時(shí)間:2009-12-04 來(lái)源:電子產(chǎn)品世界 收藏
  2008年12月8日,集成電路制造有限公司宣布其第一批產(chǎn)品已成功通過(guò)良率測(cè)試,此時(shí)距2007年12月該公司與IBM簽訂低功耗和高性能bulkCMOS(互補(bǔ)金屬氧化物半導(dǎo)體)技術(shù)許可協(xié)議不到1年時(shí)間。

關(guān)鍵詞: 中芯國(guó)際 45納米

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