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NI發(fā)布《2010自動化測試前景報(bào)告》

作者: 時間:2010-04-26 來源:電子產(chǎn)品世界 收藏

  美國國家儀器有限公司(National Instruments,簡稱)于4月13日發(fā)布了《2010前景報(bào)告》,就創(chuàng)新技術(shù)對當(dāng)今應(yīng)用的影響發(fā)表了研究結(jié)果。報(bào)告涵蓋了通信、國防航空、半導(dǎo)體、汽車和消費(fèi)電子等眾多產(chǎn)業(yè),力圖幫助工程師和管理者了解領(lǐng)域的最新發(fā)展趨勢及其影響。

本文引用地址:http://m.butianyuan.cn/article/108379.htm

  通過與眾多涉及不同領(lǐng)域的公司進(jìn)行交流,對技術(shù)發(fā)展趨勢進(jìn)行了廣泛的研究,從獨(dú)特的視角觀察市場?!?010前景報(bào)告》結(jié)合了學(xué)術(shù)研究、商業(yè)咨詢、用戶調(diào)查、在線論壇、客戶反饋和區(qū)域銷售代表討論的結(jié)果。以此數(shù)據(jù)為基礎(chǔ),該報(bào)告闡述了未來趨勢以及如何應(yīng)對測試測量行業(yè)所面臨的市場挑戰(zhàn)與技術(shù)挑戰(zhàn)。

  《2010自動化測試前景報(bào)告》從五個角度出發(fā)進(jìn)行闡述:這五個角度分別是商業(yè)策略、構(gòu)架、計(jì)算、軟件和硬件I/O。報(bào)告在每一類中詳細(xì)闡述了影響測試測量行業(yè)的發(fā)展趨勢、方法或技術(shù)。報(bào)告談?wù)摿艘韵挛鍌€主題:

  · 標(biāo)準(zhǔn)化:開發(fā)通用的平臺,降低成本,在產(chǎn)品的整個生命周期中可重復(fù)利用測試系統(tǒng)

  · 多通道RF測試:測試下一代無線設(shè)備需要一個從信號層面到軟件層面的并行測試架構(gòu)

  · Peer-to-Peer計(jì)算:越來越復(fù)雜的測試要求需要更高的性能和點(diǎn)對點(diǎn)計(jì)算構(gòu)架

  · 嵌入式設(shè)計(jì)與測試:通過實(shí)時測試軟件,工程師可以在測試階段復(fù)用他們在產(chǎn)品開發(fā)過程中建立的嵌入式系統(tǒng)模型

  · 可重配置的儀器:基于FPGA的儀器通過引入硬件級的自定義特性,進(jìn)一步提高了性能和靈活性



關(guān)鍵詞: NI 測試測量 自動化測試

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