基于PXI和LabVIEW的FCT(Functional Circuit Test)測(cè)試系統(tǒng)
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圖5 (軟件控制主界面)
圖 6 (主程序框圖)
結(jié)論
通過NI公司先進(jìn)的PXI技術(shù)，能夠準(zhǔn)確而快速地對(duì)硬件進(jìn)行控制和數(shù)據(jù)采集;同時(shí)PXI驅(qū)動(dòng)庫DAQmx與LabVIEW軟件開發(fā)平臺(tái)的無縫連接，利用PXI構(gòu)建的FCT功能測(cè)試臺(tái)， 雖然結(jié)構(gòu)復(fù)雜，信號(hào)量較多，但是結(jié)構(gòu)調(diào)理，功能強(qiáng)大，易于修改，同時(shí)實(shí)現(xiàn)了資源共享，經(jīng)過大量的實(shí)驗(yàn)，測(cè)試，我們非常成功的運(yùn)用多臺(tái)這樣的FCT功能測(cè)試臺(tái)到了工廠的產(chǎn)線中，并且穩(wěn)定可靠。每次新產(chǎn)品釋放的時(shí)候，研發(fā)工程師只需要添加一個(gè)治具，根據(jù)資源分配表壓針，連線，修改軟件即可;大大減少了測(cè)試工程師的工作負(fù)荷。相信NI的產(chǎn)品在該行業(yè)會(huì)有更加深入的應(yīng)用。
評(píng)論