彈指揮間，“洞悉”鋼體殼內(nèi)缺陷！順理成章，“透射”線圈、母線發(fā)熱異常！

　　近代科學(xué)家們一直致力于研究最理想的測(cè)試和分析方法和工具，不斷從理論建立數(shù)學(xué)和物理模型，目標(biāo)是實(shí)現(xiàn)通過(guò)非接觸，無(wú)損壞，無(wú)破壞的所要測(cè)量對(duì)象的特性，表象等屬性，從而實(shí)時(shí)的記錄和分析物體在靜止?fàn)顟B(tài)，運(yùn)行狀態(tài)，變化及過(guò)載狀態(tài)的數(shù)據(jù)。實(shí)現(xiàn)既不對(duì)測(cè)試主動(dòng)者損害又實(shí)現(xiàn)對(duì)被測(cè)試對(duì)象產(chǎn)生非接觸條件，無(wú)破壞物體其表面條件，無(wú)破壞其內(nèi)部結(jié)構(gòu)，電路阻抗，電路阻尼，影響周圍電場(chǎng)，影響周圍磁場(chǎng)，影響測(cè)量結(jié)果，以及其他所非可視的測(cè)試不損壞條件，成為難以攻克的科學(xué)難題。通常符合這些條件的測(cè)試稱之為無(wú)損檢測(cè)。

　　科學(xué)家研究發(fā)現(xiàn)，物體的發(fā)熱，通過(guò)0.7um-14um的波長(zhǎng)的光，對(duì)外進(jìn)行輻射，通過(guò)光譜分布原理(如下圖示)，發(fā)明了能夠檢測(cè)到紅外光譜的傳感器，使用此傳感器測(cè)量物體的熱量分布時(shí)對(duì)使用者安全，又無(wú)需接觸物體表面，破壞其他非可視條件，達(dá)到無(wú)損測(cè)試的理想效果。

　　紅外熱成像儀和紅外點(diǎn)溫儀是屬于此類無(wú)損檢測(cè)儀器，紅外點(diǎn)溫儀和紅外熱像儀的測(cè)量原理如圖：

　　早期，分析測(cè)試人員通常使用價(jià)格較低的紅外點(diǎn)溫儀來(lái)測(cè)試簡(jiǎn)單的某個(gè)點(diǎn)的溫度，如人體面部體溫，普通物體表面溫度等等。通常，這類測(cè)量應(yīng)該歸類為環(huán)境和物體的測(cè)量重要性屬于表面和普通，其分析不需要精密穩(wěn)定，絕對(duì)的數(shù)據(jù)可靠性，以及物體和環(huán)境所帶來(lái)的經(jīng)濟(jì)價(jià)值不是非常重要的時(shí)候。具有一個(gè)或紅外探測(cè)器的紅外點(diǎn)溫儀，感測(cè)到外部物體和測(cè)試路徑及環(huán)境的模擬溫度，只有一個(gè)點(diǎn)，無(wú)法知道更細(xì)微的測(cè)試點(diǎn)在哪里，通過(guò)數(shù)據(jù)處理只有一個(gè)物理量，給出一個(gè)模糊的點(diǎn)的測(cè)量溫度正確性和誤差較大，因此，不能夠以更精細(xì)的表面分割間隔來(lái)分析物體的熱量分布。所以，在使用紅外點(diǎn)溫儀時(shí)，根據(jù)物體的經(jīng)濟(jì)價(jià)值，環(huán)境的經(jīng)濟(jì)價(jià)值，研究的重要性，數(shù)據(jù)的可靠性，未來(lái)物體的應(yīng)用發(fā)展，來(lái)判斷是否合適。

　　紅外點(diǎn)溫儀測(cè)量某點(diǎn)的溫度，如何判斷紅外點(diǎn)溫儀的唯一的紅外探測(cè)器探測(cè)到的是那個(gè)溫度點(diǎn)?是否能夠探測(cè)到縫隙輻射出的內(nèi)部缺陷溫度?如下圖：

　　紅外點(diǎn)溫儀TI56

　　紅外熱成像儀，具有上萬(wàn)個(gè)探測(cè)器如：TI50和TI32都具有320 x 240 個(gè)高靈敏紅外探測(cè)器，TI25具有160 × 120 焦平面陣列，非制冷微測(cè)輻射熱像探測(cè)器。靈敏度達(dá)到0.1攝氏度。

　　下圖是是紅外熱成像儀的測(cè)量原理：

　　紅外熱成像儀TI32 或 TI25，讓測(cè)試更加細(xì)微，讓高溫點(diǎn)無(wú)所遁逃。

　　紅外熱成像儀TI50系列，進(jìn)行更加全面細(xì)微的廣角和近焦分析。

　　我們?cè)邶嫲偷蠣恳龣C(jī)車公司為客戶所做的變頻器和電機(jī)檢測(cè)時(shí)發(fā)現(xiàn)，客戶一直使用如上圖的測(cè)量紅外點(diǎn)溫儀TI56方法，空載測(cè)試50度左右，帶載測(cè)量溫度始終在65度左右，無(wú)法評(píng)測(cè)到異常溫度在哪里。但客戶的電機(jī)近期出現(xiàn)絕緣擊穿和爆機(jī)現(xiàn)象，使客戶困惑不已。為保證產(chǎn)品品質(zhì)，不斷通過(guò)各種試驗(yàn)方法來(lái)查找故障所在，從使用高帶寬功率分析儀NORMA5K，到溫度數(shù)據(jù)集。