利用基于PXI Express的NI FlexRIO模塊，滿足自動化測試需求

　　自從1997年基于FPGA的可重配置I/O(RIO)產(chǎn)品在NIWeek圖形化系統(tǒng)設(shè)計會議上首次亮相以來，NI已發(fā)布了多種基于NI RIO技術(shù)的設(shè)備，包括NI R系列、CompactRIO以及PXI Express RIO 中頻收發(fā)器。RIO技術(shù)不僅用于控制應(yīng)用，強大的FPGA功能大大提高了測試吞吐量，使新的測試成為可能，從而增強了自動化測試系統(tǒng)。同時，現(xiàn)成可用的商業(yè)硬件平臺以及LabVIEW為FPGA編程帶來的簡化，也大大降低了系統(tǒng)開發(fā)難度和成本。

　　圖1：基于高性能FPGA可以實現(xiàn)高帶寬實時頻譜分析儀等強大測試儀器。

　　自動化測試應(yīng)用中的FPGA

　　開放式的用戶可編程FPGA可以用于解決全新的應(yīng)用挑戰(zhàn)。在FPGA測試技術(shù)的關(guān)鍵應(yīng)用領(lǐng)域閉環(huán)測試系統(tǒng)中，測試系統(tǒng)必須向被測設(shè)備(DUT)提供實時反饋，來模擬真實世界的狀態(tài)變化，而這就需要使用具有硬件級響應(yīng)速度的基于FPGA的設(shè)備。以RFID標簽測試為例，其測試系統(tǒng)必須模擬RFID讀卡器，以不超過25 μs的延遲與標簽進行協(xié)議交互。有些自動化測試系統(tǒng)要求極高的數(shù)據(jù)處理能力，這也是FPGA的全新應(yīng)用領(lǐng)域。寬帶實時頻譜分析儀需要對采集到的數(shù)據(jù)進行連續(xù)傅立葉變換(FFT)，如圖1所示，只有通過FPGA對信號進行協(xié)處理才能滿足這些用戶自定義分析需求的吞吐量。

　　除了用于閉環(huán)實時測試系統(tǒng)的高速響應(yīng)和增強測試系統(tǒng)的信號處理能力，通過FPGA還可以實現(xiàn)自定義的協(xié)議接口、自定義的觸發(fā)控制等功能，從而可以進一步提升現(xiàn)有自動化測試系統(tǒng)功能。

　　表1：三種基于PXI Express的NI FlexRIO FPGA模塊參數(shù)