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惠瑞捷推出HSM3G 高速存儲器測試解決方案

作者: 時間:2010-08-12 來源:電子產(chǎn)品世界 收藏

   (Verigy)推出了全新的 測試解決方案,進一步拓展了面向 DDR3世代主流存儲器 IC 和更高級存儲器件測試能力的 V93000 HSM 平臺。V93000 獨特的優(yōu)勢在于其未來的可升級性,能夠為數(shù)據(jù)傳輸速度高達6.8 Gbps未來的三代 DDR 存儲器提供價格低廉的測試服務(wù),從而前所未有地長期節(jié)約經(jīng)濟成本。

本文引用地址:http://m.butianyuan.cn/article/111687.htm

   SOC 測試副總裁 Hans-Juergen Wagner 表示:“存儲器制造商一直在尋找一種既能滿足其生產(chǎn)和功能需求又能提供比一代器件壽命更長、投資價值更高的節(jié)約型 ATE 解決方案。我們可升級前所未有的 V93000 HSM 測試平臺的壽命,能夠為從 DDR3 到 DDR4 再到將來更高級的主流 DRAM 的至少三代設(shè)備提供卓越的投資回報。這些測試非常節(jié)約成本,業(yè)界其它產(chǎn)品均不可企及。”

  V93000 的速度和功能將來都可以升級,提供了測試市場上最完整的功能。其可編程的、快速的每引腳 APG 能力得到了數(shù)據(jù)總線倒置 (DBI) 和循環(huán)冗余校驗碼 (CRC) 數(shù)據(jù)的支持,能夠?qū)Ω呒壍?DDR4 存儲器技術(shù)功能進行測試,確保了較高的測試質(zhì)量和產(chǎn)量。

  得益于其每引腳的存儲器自動測試設(shè)備處理能力,V93000 HSM3G 可以節(jié)約高達20%的測試時間。它提供全并行模式的執(zhí)行(parallel pattern execution)、全并行的直流檢測以及眼寬的測量(eye-width measurements),從而提供了非常高的多點效率。

  V93000 HSM3G 在整個速度范圍內(nèi)實現(xiàn)了 2.9 Gbps 的原生數(shù)據(jù)傳輸率以及 256-site DDR3 實際并行測試(parallel testing),而無需任何測試時間管理費用,也不會影響準確性、功能性、測試范圍以及產(chǎn)量。得益于其原生速度余量(native speed headroom),HSM3G 可以滿足所有主流DDR3 總線速度需求以及高端游戲 DDR3 以及前兩個 DDR4 大規(guī)模速度等級。V93000 平臺架構(gòu)確保將來能夠升級到更高速的設(shè)備。



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