NI發(fā)布面向USB的X系列多功能DAQ

　　美國國家儀器有限公司(National Instruments，簡稱NI)近日發(fā)布面向USB的X系列多功能數(shù)據(jù)采集(DAQ)設(shè)備。USB X系列設(shè)備將高性能模擬測量和控制通道，數(shù)字I/O和計(jì)數(shù)/定時(shí)器集成到一個(gè)即插即用的設(shè)備，工程師和科學(xué)家可以將這一設(shè)備用于多種便攜式測試、測量和數(shù)據(jù)記錄應(yīng)用。USB X系列DAQ設(shè)備包括了多達(dá)32個(gè)模擬輸入、4個(gè)模擬輸出、48個(gè)數(shù)字I/O線和4個(gè)計(jì)數(shù)器。這八款全新設(shè)備速率從500kS/s多路模擬輸入(AI)到每通道2 MS/s同步采樣AI不等。

　　NI LabVIEW圖形化編程以直觀的圖形化圖標(biāo)和線，通過流程圖的方式，幫助工程師和科學(xué)家輕松開發(fā)用于USB X系列的完全自定義測試和測量應(yīng)用。LabVIEW 2010可結(jié)合NI DAQ助手進(jìn)行全新技術(shù)數(shù)據(jù)流盤實(shí)現(xiàn)管理，并可將數(shù)據(jù)從波形圖導(dǎo)出到Microsoft Excel或NI DIAdem用于后期處理，從而簡化了數(shù)據(jù)記錄與分析。與其他NI DAQ設(shè)備相同，USB X系列設(shè)備也使用同樣的多線程N(yùn)I-DAQmx驅(qū)動(dòng)軟件，這樣就可以利用X系列設(shè)備將LabVIEW或基于文字的編碼從之前的應(yīng)用中導(dǎo)出，用于其他地方。

　　兩個(gè)關(guān)鍵技術(shù)使USB X系列設(shè)備不僅功能強(qiáng)大，而且簡單易用：用于高級(jí)定時(shí)和觸發(fā)的NI STC3技術(shù)和用于高速雙向數(shù)據(jù)流盤的NI信號(hào)流技術(shù)。

　　所有USB、PCI Express和PXI Express X系列設(shè)備的核心是NI-STC3定時(shí)和同步技術(shù)，該技術(shù)協(xié)調(diào)模擬、數(shù)字和計(jì)數(shù)子系統(tǒng)的定時(shí)與觸發(fā)功能。NI-STC3技術(shù)為X系列設(shè)備提供獨(dú)立定時(shí)引擎，用于板載模擬和數(shù)字I/O子系統(tǒng)，使模擬和數(shù)字I/O能夠以不同的速度獨(dú)立執(zhí)行或與同步一起執(zhí)行。X系列設(shè)備的四個(gè)增強(qiáng)32-bit計(jì)數(shù)器可用于頻率、脈沖寬度調(diào)制(PWM)和編碼器操作，以及全新100 MHz時(shí)基。該時(shí)基可生成模擬和數(shù)字采樣率，且分辨率5倍優(yōu)于以往設(shè)備。

　　USB X系列設(shè)備中的NI信號(hào)流技術(shù)是利用基于信息的傳輸和設(shè)備端智能，提供USB高速雙向數(shù)據(jù)傳輸，使其能夠同時(shí)實(shí)現(xiàn)模擬、數(shù)字和計(jì)數(shù)操作的專利技術(shù)。利用這一技術(shù)，兩款全新設(shè)備可進(jìn)行同步采樣，每款設(shè)備的八個(gè)模擬輸入端口的采樣速率可分別達(dá)到每個(gè)1.25MS/s和2MS/s。這些設(shè)備有32或64MS的板載內(nèi)存，以確保USB高流量時(shí)仍可以進(jìn)行限定的采集。所有通道的高采樣率使這些設(shè)備非常適用于便攜式超聲波測試和瞬態(tài)記錄應(yīng)用。

　　每個(gè)USB X系列設(shè)備具有一個(gè)重新設(shè)計(jì)的鋁制封裝。全新封裝提供了一個(gè)方便的蓋子以確保信號(hào)配線的安全和防護(hù)，蓋子上設(shè)備特有的引出線標(biāo)簽確保了快速?zèng)Q定與某個(gè)通道相對(duì)應(yīng)的螺釘接頭。該封裝還包括了一個(gè)可鎖定的USB端口，防止操作中的意外丟失。