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2011第四屆國(guó)際測(cè)試儀器及應(yīng)用大會(huì)將在上海舉行

作者: 時(shí)間:2010-11-08 來(lái)源:電子產(chǎn)品世界 收藏

  主辦:《電子產(chǎn)品世界》雜志社 慕尼黑(上海)有限公司

本文引用地址:http://m.butianyuan.cn/article/114290.htm

  時(shí)間:2011年3月15日

  地點(diǎn):上海新國(guó)際博覽中心

  技術(shù)始終保持著廣泛而活躍的市場(chǎng)需求,特別是在被動(dòng)元件測(cè)試和高性能電子測(cè)試上的發(fā)展?jié)摿薮?。擴(kuò)大內(nèi)需的政府舉措更是給產(chǎn)業(yè)發(fā)展的巨大空間,其中很大一部分投入集中在與國(guó)防、航空航天和高性能測(cè)試領(lǐng)域,促使中國(guó)高端市場(chǎng)逆勢(shì)上揚(yáng),保持旺盛的活力。有鑒于此,《電子產(chǎn)品世界》將舉辦“第四屆國(guó)際及應(yīng)用技術(shù)大會(huì)”,會(huì)上將探討如何選擇最新的測(cè)試測(cè)量?jī)x器產(chǎn)品和測(cè)試測(cè)量解決方案,為廣大參會(huì)者帶來(lái)對(duì)測(cè)試測(cè)量領(lǐng)域的全新了解,并且對(duì)他們的實(shí)際工作有指導(dǎo)作用。論壇面向測(cè)試測(cè)量?jī)x器的應(yīng)用人員和測(cè)試系統(tǒng)開(kāi)發(fā)者及應(yīng)用者,包括工業(yè)、通信、航空航天、國(guó)防等行業(yè)的研發(fā)與應(yīng)用工程師、教育工作者。

  《電子產(chǎn)品世界》雜志社與慕尼黑(上海)有限公司將于2011年3月15日在上海新國(guó)際博覽中心共同舉辦“EEPW第四屆國(guó)際及應(yīng)用大會(huì)(ITMAF2011)” 期待您的參與!

  主要議題

  主題(上午):測(cè)試應(yīng)用與數(shù)據(jù)采集

  主題(下午):半導(dǎo)體及生產(chǎn)設(shè)備測(cè)試測(cè)量解決方案

  半導(dǎo)體測(cè)試技術(shù)

  無(wú)源器件測(cè)試解決方案

  高可靠性測(cè)試測(cè)量解決方案

  航空航天測(cè)試應(yīng)用與數(shù)據(jù)采集

  自動(dòng)化測(cè)試方案平臺(tái)設(shè)計(jì)與解決方案及最新發(fā)展趨勢(shì)

  雷達(dá)、射頻微波測(cè)試測(cè)量解決方案

  苛刻環(huán)境下對(duì)測(cè)試測(cè)量?jī)x器的特殊要求

  目標(biāo)聽(tīng)眾

  測(cè)試測(cè)量?jī)x器的應(yīng)用人員和測(cè)試系統(tǒng)開(kāi)發(fā)者及應(yīng)用者,包括集成電路半導(dǎo)體、工業(yè)、通信、航空航天、國(guó)防等行業(yè)的研發(fā)與應(yīng)用工程師、教育工作者。



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