新聞中心

EEPW首頁 > 測試測量 > 業(yè)界動態(tài) > NIDays 2010全球圖形化系統(tǒng)設(shè)計盛會圓滿閉幕

NIDays 2010全球圖形化系統(tǒng)設(shè)計盛會圓滿閉幕

作者: 時間:2010-11-16 來源:電子產(chǎn)品世界 收藏

  主題為“工程創(chuàng)新博覽會”2010年Days日前在上海國際會議中心圓滿落幕。借著世博會的余溫,通過編程技巧專題、自動化測試專題、工業(yè)與嵌入式專題、創(chuàng)新應(yīng)用專題和嵌入式應(yīng)用專題及動手課程等五大專題,20余場技術(shù)講座,和主題館及通過實物和多媒體技術(shù)體驗平臺在全球各地的創(chuàng)新應(yīng)用的國家館等6大互動展示區(qū)的產(chǎn)品與應(yīng)用展示,讓與會的500多名工程師深切感受了NI的產(chǎn)品與技術(shù)是如何幫助全球的工程師實現(xiàn)創(chuàng)新與應(yīng)用。

本文引用地址:http://m.butianyuan.cn/article/114590.htm

  活動最后,爭奪天下盟主的終極PK----“天下會”總決賽把活動推向了最高潮。

  

 

  

 

  

 

  


上一頁 1 2 3 4 下一頁

關(guān)鍵詞: NI LabVIEW

評論


相關(guān)推薦

技術(shù)專區(qū)

關(guān)閉