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NI簽約GE智能平臺分銷GE的反射內(nèi)存模塊

作者: 時(shí)間:2011-03-07 來源:中電網(wǎng) 收藏

  GE智能平臺宣布已經(jīng)簽署協(xié)議,由美國國家儀器公司()分銷適用于3U CompactPCI系統(tǒng)的GE cPCI-5565PIO反射內(nèi)存PMC和PMC載卡。傳輸速率2Gbaud、配備256MB內(nèi)存的cPCI-5565PIO基于GE PMC-5565PIORC,但包含了經(jīng)過專門設(shè)計(jì)的定制載卡,可與 PXI機(jī)箱相結(jié)合,用于該公司的 VeriStand實(shí)時(shí)測試和仿真軟件平臺。

本文引用地址:http://m.butianyuan.cn/article/117488.htm

  GE智能平臺商用產(chǎn)品管理經(jīng)理Wayne McGee說:“反射內(nèi)存是一項(xiàng)專有技術(shù),可實(shí)現(xiàn)實(shí)時(shí)局域網(wǎng),局域網(wǎng)內(nèi)每臺計(jì)算機(jī)均始終具有共享內(nèi)存集的最新本地副本。這些專用網(wǎng)絡(luò)被專門設(shè)計(jì)用于實(shí)現(xiàn)高確定性數(shù)據(jù)通信,提供各種先進(jìn)、嚴(yán)苛的分布式仿真和工業(yè)控制應(yīng)用所需的緊湊時(shí)間性能。因此,反射內(nèi)存十分適合美國國家儀器公司的目標(biāo)應(yīng)用,可幫助NI獲得可持續(xù)競爭優(yōu)勢。”

  美國國家儀器公司的資深實(shí)時(shí)測試平臺經(jīng)理Ian Fountain說:“我們的業(yè)務(wù)旨在幫助工程師和科研人員更加高效地設(shè)計(jì)、制作原型和部署測試、控制和嵌入式設(shè)計(jì)應(yīng)用程序。我們的客戶不斷研發(fā)影響百萬人的創(chuàng)新技術(shù)。為我們的NI VeriStand平臺加入GE反射內(nèi)存將有助于我們提供客戶需要的網(wǎng)絡(luò)性能和可靠性。”

  NI VeriStand是用于更加高效地創(chuàng)建實(shí)時(shí)測試應(yīng)用程序的軟件環(huán)境,容許配置執(zhí)行各種任務(wù)的多核實(shí)時(shí)引擎,這些任務(wù)包括:模擬量、數(shù)字量、通信總線和基于現(xiàn)場可編程門陣列(FPGA)的I/O接口;可觸發(fā)的多文件數(shù)據(jù)記錄;實(shí)時(shí)激勵生成;計(jì)算通道以及事件報(bào)警和報(bào)警響應(yīng)例程。

  GE反射內(nèi)存解決方案包括VME、PCI和PCI Express與PMC規(guī)格的節(jié)點(diǎn),以及可實(shí)現(xiàn)反射內(nèi)存網(wǎng)絡(luò)最優(yōu)管理的反射內(nèi)存集線器。



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