使用LabVIEW和NI PXI 測試ASIC

　　我們的虛擬儀器(如圖3中的圖形用戶界面所示)，是通過NI PXI機箱以及插在其中的模塊化設(shè)備構(gòu)建的，模塊化設(shè)備包括：用于快速計算的具有雙核處理器的NI PXIe-8106控制器，以及用于連接控制和數(shù)據(jù)信號傳輸?shù)?a class="contentlabel" href="http://m.butianyuan.cn/news/listbylabel/label/NI">NI PXI-6562高速DIO模塊。我們還使用NI PXI-4071數(shù)字萬用表模塊以精確測量10分之幾nA范圍內(nèi)的芯片偏置電流，使用NI PXI-4110電源模塊以快速精確地控制需要的電位，使用NI PXI-6259多功能DAQ模塊來進行各種其它測量，并控制模擬輸出電壓。

圖3. DEDIX數(shù)據(jù)采集虛擬儀器的前面板

　　我們選擇美國國家儀器公司的設(shè)備，是因為它們具有覆蓋廣泛、并易于使用的驅(qū)動，通過LabVIEW API，可以在高級的應(yīng)用程序中很容易地使用它們。在測試過程中，我們需要為8個數(shù)字輸入線設(shè)置延遲(相對于輸出時鐘信號)，使用LabVIEW 和 PXI-6562，只花費5分鐘便實現(xiàn)了該功能。

　　在與ASIC建立通信后，我們對數(shù)字比特流進行分析，這對于觀察和調(diào)試專用的數(shù)字波形數(shù)據(jù)非常有用。我們從LabVIEW函數(shù)選板中選擇了一些函數(shù)來適當?shù)丶羟?、移動以及轉(zhuǎn)換比特流數(shù)據(jù)，并將其轉(zhuǎn)化為能夠代表X射線強度的表示方式。通過這些數(shù)據(jù)，我們可以計算ASIC參數(shù)，如增益、噪聲，以及通道或像素間的直流電平分布。我們還使用了許多數(shù)學函數(shù)，如差分、擬合(高斯函數(shù)和專用誤差修正函數(shù))，以及對數(shù)組和其它基本數(shù)據(jù)類型的各種操作。LabVIEW提供了所有這些函數(shù)，所以我們可以快速地實現(xiàn)這些應(yīng)用。

　　由于收集了大量的數(shù)據(jù)需要處理，所以設(shè)備的性能至關(guān)重要。例如， PX90芯片包含了一個32x40的陣列(共1,280像素)，用于對射入的X-射線進行計數(shù)，該芯片需要對一個模擬參數(shù)(閾值掃描)進行測量，從而對所有的像素數(shù)據(jù)進行擬合。而如果想計算出芯片的校準參數(shù)，則需要將這一測試過程重復(fù)256次。這意味著我們需要重復(fù)30萬次以上的數(shù)據(jù)擬合過程，而這一過程所耗的時間又是非常關(guān)鍵。使用LabVIEW2010，程序員可以配置for循環(huán)以利用多核處理器的性能。借助這一特性，我們在一個8核處理器上將計算速度提高了七倍以上。

　　結(jié)論

　　我們構(gòu)建了一個能夠可靠快速地測試產(chǎn)品的虛擬儀器。它采用了諸多種類的模塊化儀器，因此我們無需使用其它設(shè)備就可以完成必要的測試。我們的虛擬儀器構(gòu)建在LabVIEW所編寫的專用軟件的基礎(chǔ)上，因此用戶可以設(shè)置適當?shù)臏y試配置、ASIC參數(shù)，并讀取數(shù)據(jù)，然后在圖形化用戶界面上顯示分析后的結(jié)果。正是由于基于NI產(chǎn)品構(gòu)建的這個系統(tǒng)方案，使得我們可以節(jié)省一年的測試時間。例如，日本Rigaku公司在高速、位置靈敏的探測器系統(tǒng)中采用了我們的一個產(chǎn)品[2]。隨著我們新的虛擬儀器的出現(xiàn)，用在測試設(shè)備中ASIC所花費的時間縮減至不到三個月。

　　參考文獻

　　[1] P. Grybo?, P. Maj, L. Ramello, K. ?wientek,: Measurements of Matching and High Rate Performance of Multichannel ASIC for Digital X-Ray Imaging Systems, IEEE Transaction on Nuclear Science, vol. 54, August 2007, pp. 1207-1215

　　[2] R. SZCZYGIE?, P. GRYBO?, P. MAJ, A. Tsukiyama, K. Matsushita, T. Taguchi: RG64 – high count rate low noise multichannel ASIC with energy window selection and continuous readout mode, IEEE Transactions on Nuclear Science ; ISSN 0018-9499. — 2009 vol. 56 no. 2 s. 487–495

　　[3] M. Kachel, P. Grybos, R. Szczygiel „Low Noise 64-Channel ASIC for Si, GaAs and CdTe Strip Detectors” NSS-MIC 2009 Conference.

　　[4] R. Szczygiel, P. Grybos, P. Maj, "A Prototype Pixel Readout IC for High Count Rate X-ray Imaging Systems in 90 nm CMOS Technology", IEEE Trans. Nucl. Sci., vol. 57, no. 3, 2010, p. 1664-1674.