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測量精度/信號完整性:主打指標(biāo)中的王者

作者:ChrisLoberg 時間:2012-02-14 來源:電子產(chǎn)品世界 收藏

  引言

本文引用地址:http://m.butianyuan.cn/article/128986.htm

  當(dāng)評估時,帶寬是很重要的,對于高速應(yīng)用而言,高帶寬是必需的。然而,的真正目的是要盡可能準(zhǔn)確地顯示感興趣的信號,而且背后更為復(fù)雜,涉及儀器的基本設(shè)計、探頭架構(gòu)和連接配件、以及帶寬之外的參數(shù)(包括上升時間、采樣率和抖動本底噪聲)。當(dāng)選擇時,工程師應(yīng)評估的關(guān)鍵參數(shù)概述如表1所示。

  更佳信號完整性

  高速信號很容易產(chǎn)生信號完整性問題,因為它們涉及快沿和極窄的單位間隔或位次(bit times)。隨著通信鏈路數(shù)據(jù)速率的增加,用戶界面將縮小,信號上升時間將減少。

  使問題復(fù)雜化的事實是,當(dāng)被傳輸信號進入接收機時,可能產(chǎn)生多個信號完整性問題。這些信號完整性問題可能包括當(dāng)此信號流經(jīng)電路板或從硅芯片進入封裝引腳再進入電路板時產(chǎn)生的信號衰減。通道內(nèi)的信號衰減是一個非常嚴(yán)重的問題,必須加以解決。PCB材料(如:FR–4)內(nèi)的信號損失量隨線路長度的增加及數(shù)據(jù)速率的提高而增加。因信號幅度的縮小,噪音和反射正成為一個更大的影響因素。用戶需要在接收機中采用去嵌入策略,以打開閉合的眼圖。

  隨著第三代串行數(shù)據(jù)標(biāo)準(zhǔn)的出現(xiàn),8-10Gb/s正逐漸成為行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)。在光通信市場中,因以太網(wǎng)(Ethernet)發(fā)展到4 × 25G(100GbE),設(shè)計人員需要能夠使用高達32Gb/s的比特率對信號進行測試。同時,高速FPGA和寬帶射頻也推動了極限值的擴大。公司的DPO/DSA73304D為這些高端應(yīng)用程序提供業(yè)界最精準(zhǔn)的測量性能。

  技術(shù)平臺與突破

  公司為了提供業(yè)界領(lǐng)先的DPO/DSA73304D示波器性能,采用了IBM 8HP鍺化硅技術(shù)。這是一種130納米鍺化硅雙極互補金屬氧化物半導(dǎo)體(BiCMOS)工藝,利用200GHz的FT轉(zhuǎn)換速度提供了2倍于上代產(chǎn)品的性能。

  鍺化硅(SiGe)技術(shù)利用可靠性高且成熟的制造工藝,提供能與特殊材料(如磷化銦(InP)和砷化鎵(GaAs))性能媲美的性能級別。與其它方案不同的是,鍺硅BiCMOS工藝提供了在一塊芯片上同時制備高速雙極性晶體管和標(biāo)準(zhǔn)CMOS的途徑,從而使一系列同時具備高集成度和極致性能的電路成為可能。



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