NI 發(fā)布《2012年自動化測試趨勢展望》

　　新聞要點
　　· 該趨勢展望報告探討了影響當(dāng)前和未來的電子行業(yè)的最新商業(yè)策略、架構(gòu)、計算、軟件和I/O。
　　· 經(jīng)過多年的自動化測試，NI從其商業(yè)關(guān)系、內(nèi)部專業(yè)知識和第三方研究中吸取經(jīng)驗，并提出了行業(yè)內(nèi)最新、最為全面的見解。
　　· 報告中著重介紹了新興的移動設(shè)備如何改變行業(yè)架構(gòu)，公司機構(gòu)如何通過建立測試組織來奠定各自的戰(zhàn)略優(yōu)勢。

　　新聞發(fā)布- 2012年5月- 美國國家儀器公司(National Instruments, 簡稱 NI)近日發(fā)布《2012年自動化測試趨勢展望》,其中分享了公司對最新測試測量技術(shù)和方法的研究發(fā)現(xiàn)。 該趨勢報告詳細介紹了影響眾多行業(yè)的發(fā)展趨勢，包括消費電子產(chǎn)品、汽車、半導(dǎo)體，航空航天與國防、醫(yī)療設(shè)備以及通訊。 工程師和管理人員可從中了解并采用優(yōu)化測試組織的最新策略和最佳方式。

　　2012年趨勢展望報告由5個類別組成： 商業(yè)戰(zhàn)略、架構(gòu)、計算、軟件和I/O，并探討了以下主要趨勢：

• 測試組織的優(yōu)化: 各個組織將測試工程視為戰(zhàn)略資產(chǎn)，以在競爭中獲得優(yōu)勢。
• 設(shè)計流程中的測量與仿真：將復(fù)雜模型與真實測量結(jié)合，提高產(chǎn)品質(zhì)量，縮短開發(fā)時間。
• PCI Express外部接口: 高速、低延遲PC內(nèi)部總線擁有新的系統(tǒng)拓撲結(jié)構(gòu)，并增強了外部接口功能。
• 移動設(shè)備的迅速普及: “智能手機和平板電腦的普及”正改變著測試系統(tǒng)控制和監(jiān)測的方式。
• 便攜的測量算法：全新工具可實現(xiàn)一次開發(fā)測量IP，即可部署至多個不同的處理單元。

　　《2012年自動化測試趨勢展望》的內(nèi)容源于學(xué)術(shù)界和工業(yè)界的研究、用戶論壇與調(diào)查、商業(yè)智能化和用戶顧問委員會的反饋意見。 該報告以數(shù)據(jù)為基礎(chǔ)，詳細介紹了下一代技術(shù)趨勢，以此應(yīng)對測試測量領(lǐng)域的商業(yè)和技術(shù)挑戰(zhàn)。

　　《自動化測試趨勢展望》由NI測試行業(yè)領(lǐng)導(dǎo)委員會編寫，NI創(chuàng)立該委員會，旨在促進全球不同行業(yè)內(nèi)數(shù)千家客戶分享反饋各自的最佳測試測量方法。 NI測試行業(yè)領(lǐng)導(dǎo)委員會以促進測試行業(yè)領(lǐng)導(dǎo)人之間的交流為目標，鼓勵他們提出商業(yè)和技術(shù)的獨到見解。 領(lǐng)導(dǎo)委員會的活動內(nèi)容包括領(lǐng)導(dǎo)人會議、同行互通網(wǎng)絡(luò)和技術(shù)交流。