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NI 發(fā)布《2012年自動化測試趨勢展望》

作者: 時間:2012-05-15 來源:電子產品世界 收藏

  新聞要點
  · 該趨勢展望報告探討了影響當前和未來的電子行業(yè)的最新商業(yè)策略、架構、計算、軟件和I/O。
  · 經過多年的從其商業(yè)關系、內部專業(yè)知識和第三方研究中吸取經驗,并提出了行業(yè)內最新、最為全面的見解。
  · 報告中著重介紹了新興的移動設備如何改變行業(yè)架構,公司機構如何通過建立測試組織來奠定各自的戰(zhàn)略優(yōu)勢。

本文引用地址:http://m.butianyuan.cn/article/132410.htm

  新聞發(fā)布- 2012年5月- 美國國家儀器公司(National Instruments, 簡稱 )近日發(fā)布《2012年趨勢展望》,其中分享了公司對最新測試測量技術和方法的研究發(fā)現(xiàn)。 該趨勢報告詳細介紹了影響眾多行業(yè)的發(fā)展趨勢,包括消費電子產品、汽車、半導體,航空航天與國防、醫(yī)療設備以及通訊。 工程師和管理人員可從中了解并采用優(yōu)化測試組織的最新策略和最佳方式。

  2012年趨勢展望報告由5個類別組成: 商業(yè)戰(zhàn)略、架構、計算、軟件和I/O,并探討了以下主要趨勢:

  • 測試組織的優(yōu)化: 各個組織將測試工程視為戰(zhàn)略資產,以在競爭中獲得優(yōu)勢。
  • 設計流程中的測量與仿真:將復雜模型與真實測量結合,提高產品質量,縮短開發(fā)時間。
  • PCI Express外部接口: 高速、低延遲PC內部總線擁有新的系統(tǒng)拓撲結構,并增強了外部接口功能。
  • 移動設備的迅速普及: “智能手機和平板電腦的普及”正改變著測試系統(tǒng)控制和監(jiān)測的方式。
  • 便攜的測量算法:全新工具可實現(xiàn)一次開發(fā)測量IP,即可部署至多個不同的處理單元。

  《2012年趨勢展望》的內容源于學術界和工業(yè)界的研究、用戶論壇與調查、商業(yè)智能化和用戶顧問委員會的反饋意見。 該報告以數據為基礎,詳細介紹了下一代技術趨勢,以此應對測試測量領域的商業(yè)和技術挑戰(zhàn)。

  《自動化測試趨勢展望》由測試行業(yè)領導委員會編寫,NI創(chuàng)立該委員會,旨在促進全球不同行業(yè)內數千家客戶分享反饋各自的最佳測試測量方法。 NI測試行業(yè)領導委員會以促進測試行業(yè)領導人之間的交流為目標,鼓勵他們提出商業(yè)和技術的獨到見解。 領導委員會的活動內容包括領導人會議、同行互通網絡和技術交流。



關鍵詞: NI 自動化測試

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