新聞中心

EEPW首頁 > 測試測量 > 設計應用 > 開發(fā)針對ECU測試的硬件在環(huán)、高速仿真與數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)

開發(fā)針對ECU測試的硬件在環(huán)、高速仿真與數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)

作者:Thomas J. Mangliers,Edward Frank 時間:2012-06-07 來源:電子產(chǎn)品世界 收藏

  使用 PXI平臺進行高速數(shù)據(jù)采集

本文引用地址:http://m.butianyuan.cn/article/133311.htm

  National Instruments產(chǎn)品是我們系統(tǒng)的核心。為我們的DAS系統(tǒng)提供所有的I/O,包括復雜信號產(chǎn)生、高速采集和車輛總線仿真和監(jiān)測。我們使用獨自開發(fā)了DAS和日志文件工具,我們的系統(tǒng)完全依賴于產(chǎn)品的速度和精度。我們無法為我們的應用使用標準的采集卡,這是由于信號需要精確的定時。我們改為選擇使用NI R系列智能現(xiàn)場可編程門陣列(FPGA)DAQ模塊,來提供具有復雜定時的波形和仿真的傳感器輸出。NI PXI-7831R和PXI-7833R R系列智能DAQ模塊也使得我們能以更高的采樣率采集以及實時的輸出信號。

  DAS數(shù)據(jù)處理是我們所面臨的另一個問題。我們的解決方案是,使用中固有的并行處理機制開發(fā)一個日志文件工具,并使用一個多核的應用程序,充分利用主機的全部運算能力來處理我們的數(shù)據(jù)。

  使用National Instruments平臺的優(yōu)勢

  該DAS系統(tǒng)在正常的實驗室環(huán)境下而不用在專門的整車實驗室里,就可以使用現(xiàn)成的工具進行測試,大大減少了我們客戶的成本。因為該DAS可以監(jiān)測和控制所有的信號,所以我們一次就完成了測試,而之前客戶的舊采集系統(tǒng)因為可用通道數(shù)有限,需要多次測試?,F(xiàn)在用戶可以在短短三個星期里完成測試流程,而采用舊的采集系統(tǒng)則需要三個月?! ?/p>


DGE高速DAS與DGE負載箱相連,用戶的ECU定時信號顯示實例  

由于系統(tǒng)以如此高的速率進行監(jiān)測,所以記錄每一次讀取會產(chǎn)生大量的數(shù)據(jù)。

上一頁 1 2 下一頁

關鍵詞: NI LabVIEW ECU

評論


相關推薦

技術專區(qū)

關閉