首批基因芯片出生缺陷基因診斷技術落戶山西

　　山西省人口計生委科學研究所日前公布，首批基因芯片出生缺陷基因診斷技術落戶山西，該技術可在孕期診斷出400多種遺傳學疾病。據(jù)悉，目前這項技術對出生缺陷的檢出率可達28%，傳統(tǒng)的檢查方法只有5%~10%的檢出率。

　　據(jù)了解，此技術由美國加州大學基因芯片臨床診斷中心主任李新民推廣至山西。此外，李新民還將推廣第三代測序技術。按照國際生物科學界的分類，第一代測序技術完成人的全基因組測序花費了10年的時間(2000年前后的人類基因組計劃)，第二代測序技術只需要10天時間，而第三代測序技術只需要1天時間，甚至更短。