NI參加2012 TD-LTE測(cè)試技術(shù)研討會(huì)

　　美國(guó)國(guó)家儀器公司(National Instruments, 簡(jiǎn)稱NI)于2012年11月23日參加了由工業(yè)和信息化部電信研究院和TD技術(shù)論壇聯(lián)合舉辦的2012 TD-LTE測(cè)試技術(shù)研討會(huì)。NI在此研討會(huì)上發(fā)表了題為"重新定義移動(dòng)通信測(cè)試——從研發(fā)驗(yàn)證到制造測(cè)試"的精彩演講，演講人NI中國(guó)無(wú)線通信行業(yè)市場(chǎng)經(jīng)理湯敏被評(píng)為"企業(yè)演講最佳演講人"?！　?/p>本文引用地址：http://m.butianyuan.cn/article/139899.htm

NI中國(guó)無(wú)線通信行業(yè)市場(chǎng)經(jīng)理湯敏正在進(jìn)行演講

　　在演講中湯敏為到場(chǎng)嘉賓介紹了NI是如何通過(guò)為無(wú)線通信領(lǐng)域的工程師和科學(xué)家提供豐富的軟硬件工具從而提高測(cè)試效率、加速設(shè)計(jì)創(chuàng)新。NI的無(wú)線通信測(cè)試方案，采用以軟件為中心的模塊化射頻儀器構(gòu)架，基于現(xiàn)成可用的模塊化硬件設(shè)備，通過(guò)豐富的射頻與無(wú)線工具包以及IP共享，從TD-LTE到最新的802.11ac，工程師可快速實(shí)現(xiàn)從研發(fā)驗(yàn)證到生產(chǎn)測(cè)試的一體化流程：對(duì)于研發(fā)驗(yàn)證，通過(guò)提供基于軟件無(wú)線電架構(gòu)的開放式測(cè)試驗(yàn)證平臺(tái)，助力企業(yè)和研究院所的自主創(chuàng)新和自主知識(shí)產(chǎn)權(quán);對(duì)于制造測(cè)試，通過(guò)提供高速并行式產(chǎn)線測(cè)試平臺(tái) ，為企業(yè)提供高性價(jià)比的一站式測(cè)試解決方案 。

　　NI還在現(xiàn)場(chǎng)設(shè)置了展臺(tái)，向到場(chǎng)的嘉賓展示了NI在無(wú)線通信領(lǐng)域的最新產(chǎn)品和技術(shù)，其中包括業(yè)界首款矢量信號(hào)收發(fā)儀(VST)，它在單個(gè)PXI模塊化儀器中，結(jié)合了矢量信號(hào)分析儀、矢量信號(hào)發(fā)生器與用戶可編程的FPGA模塊。對(duì)于射頻領(lǐng)域來(lái)說(shuō)，它可以進(jìn)行多協(xié)議多終端并行測(cè)試，方便地實(shí)現(xiàn)了單套測(cè)試系統(tǒng)并行測(cè)試四個(gè)待測(cè)終端，具體包括GSM的校準(zhǔn)與綜測(cè)、WCDMA的校準(zhǔn)與綜測(cè)、WiFi測(cè)試、Bluetooth測(cè)試以及GPS測(cè)試等，為進(jìn)一步提升測(cè)試效率降低測(cè)試成本提供了一站式解決方案?！　?/p>

與會(huì)嘉賓在參觀NI的展臺(tái)

　　測(cè)試技術(shù)是TD-LTE發(fā)展產(chǎn)業(yè)鏈上十分關(guān)鍵的一環(huán)，未來(lái)TD-LTE產(chǎn)業(yè)將面對(duì)多模多頻的終端發(fā)展方向以及移動(dòng)互聯(lián)網(wǎng)時(shí)代復(fù)雜的網(wǎng)絡(luò)環(huán)境，而未來(lái)商用智能終端尤其是TD-LTE終端的最大消費(fèi)和生產(chǎn)國(guó)是中國(guó)，這對(duì)今天的測(cè)試技術(shù)、測(cè)試儀器提出了巨大挑戰(zhàn)。NI希望能抓住此機(jī)遇，為研發(fā)驗(yàn)證及制造測(cè)試的工程師們提供一個(gè)統(tǒng)一的平臺(tái)，幫助他們降低測(cè)試成本，從而提高產(chǎn)品的市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)力，來(lái)為整個(gè)TD-LTE產(chǎn)業(yè)發(fā)展做好鋪墊。