R&S全面電磁兼容和射頻微波創(chuàng)新方案亮相首屆電子設計創(chuàng)新會議

　　由Microwave Journal 和《微波雜志》(Microwave Journal China)主辦的首屆電子設計創(chuàng)新會議(Electronic Design Innovation Conference，EDI CON 2013)將于2013年3月12日-14日在中國北京舉辦。德國羅德與施瓦茨公司是歐洲最大的電子測量儀器公司和全球最大的EMC系統(tǒng)集成公司， 將參加EDI CON的講座、演示及研討會，屆時，羅德與施瓦茨公司將有六位來自德國的專家、一位來自俄羅斯的專家和多位中國本地的專家，分別以五個專題講座、兩個專題討論和七個主題展示，參與大會的電子設計板塊、測量與建模板塊、系統(tǒng)與工程板塊和商業(yè)應用板塊，全面介紹羅德與施瓦茨公司在微波毫米波、電磁兼容、導航、雷達、元器件等領域的最新測試技術和最新的電子測試與測量儀器。

　　五個主題講座分別為：基于時域掃描的EMI測試接收機技術、衛(wèi)星導航應用、變頻設備的噪聲系數(shù)測試、寬帶放大器設計的挑戰(zhàn)、反射測量的誤差源分析。

　　兩個專題講座分別為：微波毫米波測試解決方案和矢網(wǎng)的單次連接全面測量技術。

　　七個主題展示分別為：110GHz測試系統(tǒng)、40GHz多端口測試系統(tǒng)、基于多音技術的群時延測量系統(tǒng)、雷達脈沖信號分析系統(tǒng)、最新EMI測試接收機、導航測試解決方案、最新示波器技術。

　　與會代表和參觀者將直接接觸和了解到R&S全面的電磁兼容測試技術與解決方案、在射頻微波領域的先進測試技術，以及以R&S的測試測量儀表為核心，根據(jù)客戶需求定制開發(fā)電磁兼容和微波射頻測試解決方案。這些新產(chǎn)品和亮點引導新領域的電子設計發(fā)展，是電子設計領域的專家與工程師共同關注的焦點。