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基于16位8通道DASAD7606的系統(tǒng)布局考慮

作者: 時(shí)間:2010-12-30 來(lái)源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

圖12. 圖11所示電路的直方圖

在用于測(cè)試器件間匹配的圖13所示電路中,7.5 V直流信號(hào)施加于U1和U2 AD7606器件的V1,并使用外部基準(zhǔn)電壓源。兩個(gè)AD7606器件的兩個(gè)V1的碼直方圖如圖14所示。板上的所有16個(gè)以200 kSPS吞吐速率工作。U1和U2的V1通道之間的碼直方圖平均值相差0.6 LSB。

圖13. 用于測(cè)試兩個(gè)AD7606器件間匹配的電路示意圖,使用外部基準(zhǔn)電壓源

圖14. 圖13所示電路的直方圖

以上直方圖顯示,采用ADR421外部基準(zhǔn)電壓源時(shí),一個(gè)AD7606器件的直方圖平均值間匹配和多個(gè)AD7606器件的直方圖平均值間匹配均小于1 LSB。

結(jié)論

能夠確保通過(guò)一個(gè)AD7606實(shí)現(xiàn)通道間良好匹配性能,并且同一PC板上的多個(gè)AD7606之間也具有良好的器件間匹配性能。AD7606器件的對(duì)稱(chēng),特別是去耦電容將有助于實(shí)現(xiàn)良好的通道間匹配和器件間匹配。在高通道數(shù)中,良好的通道間和器件間性能匹配意味著校準(zhǔn)程序得以簡(jiǎn)化。


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評(píng)論


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