基于USB的ARM仿真器的研究與設(shè)計(jì)
目前針對(duì)嵌入式系統(tǒng)開發(fā)的調(diào)試工具品種繁多,如ARM公司的AXD debugger軟件與Mutil-ICE仿真器等。但是大部分嵌入式調(diào)試工具價(jià)格過高,因此設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)一種速度快、性能穩(wěn)定、價(jià)格低廉、易于實(shí)現(xiàn)的ARM調(diào)試工具是十分必要的。
1 ARM JTAG調(diào)試原理
ARM典型的調(diào)試系統(tǒng)結(jié)構(gòu)如圖1所示。調(diào)試系統(tǒng)包括調(diào)試主機(jī)、仿真器和調(diào)試目標(biāo)。本文引用地址:http://m.butianyuan.cn/article/151764.htm
調(diào)試主機(jī)是一臺(tái)運(yùn)行調(diào)試軟件(例如ADS)的計(jì)算機(jī)。調(diào)試主機(jī)可以發(fā)出高層的調(diào)試命令,例如設(shè)置斷點(diǎn)、訪問內(nèi)存等[2]。
仿真器用來將調(diào)試主機(jī)發(fā)出的高層調(diào)試命令轉(zhuǎn)換為底層的ARM JTAG調(diào)試命令。因?yàn)槟繕?biāo)機(jī)無法識(shí)別調(diào)試主機(jī)發(fā)送來的高級(jí)命令,因此就需要仿真器將調(diào)試主機(jī)發(fā)出的高層調(diào)試命令轉(zhuǎn)換為底層的ARM JTAG調(diào)試命令[3]。在整個(gè)調(diào)試系統(tǒng)中起到重要的作用,其性能也決定了整個(gè)調(diào)試系統(tǒng)性能。
2 方案設(shè)計(jì)
本文提出了一種采用PHILIPS公司的ARM7芯片LPC2148設(shè)計(jì),具有USB2.0通信方式、高速穩(wěn)定的ARM仿真器實(shí)現(xiàn)方案,如圖2所示。
守護(hù)進(jìn)程接收從IDE集成開發(fā)環(huán)境發(fā)送來的調(diào)試命令,將其通過USB總線轉(zhuǎn)發(fā)到ARM仿真器,ARM仿真器再將調(diào)試命令轉(zhuǎn)換成JTAG格式的信號(hào)并發(fā)送到I/O口,從而控制調(diào)試目標(biāo)執(zhí)行特定的操作,達(dá)到調(diào)試的目的。同理,從調(diào)試目標(biāo)返回的數(shù)據(jù),先經(jīng)過ARM仿真器的譯碼,再經(jīng)過守護(hù)進(jìn)程返回到IDE開發(fā)環(huán)境,從而形成一個(gè)完整的調(diào)試系統(tǒng)。
3 硬件電路設(shè)計(jì)
本設(shè)計(jì)的最大特點(diǎn)是采用了LPC2148作為主控芯片。該芯片內(nèi)部集成了ARM7TDMI-S微控制器和完全兼容USB2.0的設(shè)備控制器,支持32個(gè)物理(16個(gè)邏輯)端點(diǎn);支持控制、批量、中斷和同步端點(diǎn);所有端點(diǎn)都有一個(gè)雙向的DMA通道。因?yàn)樾酒瑑?nèi)部集成了USB控制器,大大降低了電路板的設(shè)計(jì)難度和開發(fā)成本。其硬件電路框圖如圖3所示。
(1)本機(jī)JTAG調(diào)試電路
為了便于調(diào)試和燒寫程序,將芯片LPC2148的JTAG接口接到一個(gè)20引腳的標(biāo)準(zhǔn)JTAG插口。本設(shè)計(jì)中使用引腳P0.8、P0.9、P0.10、P0.12、P0.14作為外部JTAG接口,盡量不用有其他接口功能的引腳,如P0.11、P0.14接口與I2C接口SCL1、SDA1功能復(fù)用,以便于將來的硬件升級(jí)。為了增強(qiáng)帶負(fù)載能力,使用一片74HC244芯片,同時(shí)為了盡量兼容大部分ARM開發(fā)板上的不同JTAG插口,本設(shè)計(jì)提供了一個(gè)20引腳的JTAG插口和一個(gè)14引腳的JTAG插口。
評(píng)論