基于ARM9和MMC212xMG的數(shù)字尋北儀設(shè)計(jì) 作者： 時(shí)間：2010-03-24 來(lái)源：網(wǎng)絡(luò) 加入技術(shù)交流群 掃碼加入和技術(shù)大咖面對(duì)面交流海量資料庫(kù)查詢 收藏 <a target='_blank'><img src='https://ad.eepw.com.cn/www/delivery/avw.php?zoneid=88&cb=INSERT_RANDOM_NUMBER_HERE&n=a635e61e' border='0' alt='' /></a> <a target='_blank'><img src='https://ad.eepw.com.cn/www/delivery/avw.php?zoneid=87&cb=INSERT_RANDOM_NUMBER_HERE&n=a576c0a2' border='0' alt='' /></a> 內(nèi)部寄存器的第2和3個(gè)字節(jié)為X軸磁場(chǎng)測(cè)量值，第4和5個(gè)字節(jié)為Y軸磁場(chǎng)測(cè)量值。啟動(dòng)MMc212xMG進(jìn)行測(cè)量的命令流程如圖3所示。本文引用地址：http://m.butianyuan.cn/article/152015.htm 在啟動(dòng)測(cè)量命令完成后，延時(shí)10 mS，讀取測(cè)量數(shù)據(jù)。其流程如圖4所示。 上一頁(yè) 1 2 3 4 下一頁(yè)
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