一種嵌入式系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)的JTAG調(diào)試器

JTAG 作為一個(gè)通用的標(biāo)準(zhǔn)器件功能測(cè)試接口， 具有靈活高效、易于實(shí)現(xiàn)等優(yōu)點(diǎn)， 是微控制器、微處理器、DSP、SoC 等器件的重要外部接口。它不但可以用來測(cè)試內(nèi)部功能模塊狀態(tài)， 而且可以實(shí)現(xiàn)在線調(diào)試（ICE）功能。arm系列處理器正是通過JTAG 接口使用內(nèi)部集成的ICE 功能， 并采用這種方式實(shí)現(xiàn)在線調(diào)試。此外CPLD、FPGA 等器件大多都可以使用JTAG 接口實(shí)現(xiàn)在線編程或下載。因此，JTAG 接口已經(jīng)成為復(fù)雜芯片系統(tǒng)的必備接口， 在芯片測(cè)試、調(diào)試及實(shí)現(xiàn)其他特殊功能方面發(fā)揮著重要作用。

基本原理

JTAG 標(biāo)準(zhǔn)即IEEE 1149.1 標(biāo)準(zhǔn)。聯(lián)合測(cè)試行動(dòng)組JTAG（Joint Test Action Group ）起草了邊界掃描測(cè)試BST（Boundary Scan Testing）規(guī)范， 該標(biāo)準(zhǔn)為數(shù)字集成電路規(guī)定了一個(gè)測(cè)試訪問口（TAP）和邊界掃描結(jié)構(gòu)，解決了由于數(shù)字電路高度集成化帶來的一些測(cè)試難題。它還提供了一種訪問和控制芯片內(nèi)部仿真（ICE） 模塊的方法， ICE 模塊一般包括內(nèi)部掃描和自測(cè)試的功能， 可以很好地支持集成電路的開發(fā)。

JTAG標(biāo)準(zhǔn)工作原理

邊界掃描技術(shù)的基本思想是在靠近芯片的輸入輸出管腳增加一個(gè)移位寄存器單元。通過這些邊界掃描寄存器單元，可以實(shí)現(xiàn)對(duì)芯片輸入輸出信號(hào)的觀察和控制。另外， 靠近芯片輸入輸出管腳的邊界掃描（移位） 寄存器單元可以相互連接起來，在芯片的周圍形成一個(gè)邊界掃描鏈（Boundary- Scan Chain） .一般的芯片都會(huì)提供幾條獨(dú)立的邊界掃描鏈， 用來實(shí)現(xiàn)完整的測(cè)試功能。

在JTAG標(biāo)準(zhǔn)中， 寄存器被分為兩大類： 數(shù)據(jù)寄存器（DR- Data Register）和指令寄存器（IR- Instruction Register），邊界掃描鏈寄存器即為一種很重要的數(shù)據(jù)寄存器，邊界掃描鏈可用來觀察和控制芯片的輸入輸出。指令寄存器用來實(shí)現(xiàn)對(duì)數(shù)據(jù)寄存器的控制。TAP 是一個(gè)通用的端口， 通過TAP 可以訪問芯片提供的所有數(shù)據(jù)寄存器和指令寄存器， 對(duì)整個(gè)TAP的控制是通過TAP控制器完成的。TAP包括5個(gè)信號(hào)接口： （1）TCK（Test Clock）， 為TAP操作提供了一個(gè)獨(dú)立的基本的時(shí)鐘信號(hào)。（2）TMS（Test-Mode Selector） ，用來控制TAP狀態(tài)機(jī)的轉(zhuǎn)換。（3）TDI（TestData Input）， 是JTAG指令和數(shù)據(jù)的串行輸入端。在TCK的上升沿被采樣，結(jié)果送到JTAG寄存器中。（4）TDO（Test Data Output），是JTAG指令和數(shù)據(jù)的串行輸出端。在TCK的下降沿被輸出到TDO.（5）TRST， 是JTAG電路的復(fù)位輸入信號(hào)， 低電平有效。

通過TAP控制器的狀態(tài)轉(zhuǎn)移即可實(shí)現(xiàn)對(duì)數(shù)據(jù)寄存器和指令寄存器的訪問， 從而實(shí)現(xiàn)對(duì)JTAG測(cè)試電路的控制。TAP控制器共有16 種狀態(tài)。通過測(cè)試模式選擇TMS 和時(shí)鐘TCK可控制狀態(tài)的轉(zhuǎn)移。

指令寄存器允許特定的指令被裝載到指令寄存器當(dāng)中， 用來選擇需要執(zhí)行的測(cè)試，或者選擇需要訪問的測(cè)試數(shù)據(jù)寄存器。每個(gè)支持JTAG調(diào)試的芯片必須包含一個(gè)指令寄存器。JTAG標(biāo)準(zhǔn)要求芯片支持的基本指令有：EXTEST、 INTEST、SAMPLE/PRELOAD、BYPASS、HIGHZ等。

arm7TDMI調(diào)試原理

從功能上看， arm7TDMI 處理器主要包括三大部分：

（1）arm CPU Main Processor Logic ， 包括了對(duì)調(diào)試的硬件支持； （2）嵌入式ICE- RT Logic ， 包括了一組寄存器和比較器， 用來產(chǎn)生調(diào)試異常、設(shè)置斷點(diǎn)和觀察點(diǎn)； （3）TAP控制器， 它通過JTAG接口控制和操作掃描鏈。