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基于峰值控制的IGBT串聯(lián)均壓技術(shù)

作者: 時間:2013-08-22 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

3.2 IGBT雪崩箝位的
通常認(rèn)為,一旦超過IGBT額定電壓就會引起過電壓擊穿,導(dǎo)致不可逆的失效。其實IGBT發(fā)生過電壓擊穿時,雪崩電壓擊穿本身不會損壞器件,是個可恢復(fù)過程;過電壓擊穿失效本質(zhì)在于雪崩電壓擊穿時產(chǎn)生的焦耳熱累積引起結(jié)溫不斷上升的熱擊穿失效。在此通過實驗驗證IGBT具有可承受短時過電壓擊穿能力。實驗原理電路如圖6a所示,V1作為開關(guān)管與電感負(fù)載L串聯(lián),實驗對象Vs與一個限流電阻R0串聯(lián),并在V1兩端。由于L的作用,當(dāng)V1關(guān)斷時,V1的uCE波形中會出現(xiàn)高于直流側(cè)電壓的浪涌電壓。當(dāng)V1的UCE超過Vs的雪崩電壓時,Vs發(fā)生雪崩擊穿箝位現(xiàn)象,其余電壓降到R0上。實驗波形如圖6b所示,型號為K50T60的Vs,其額定電壓為600 V,發(fā)生雪崩擊穿時,電壓基本穩(wěn)定在630 V,流過約為5.9 A的電流。

本文引用地址:http://m.butianyuan.cn/article/159275.htm

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綜上考慮,改進電路如圖7所示。該電路不僅提高了穩(wěn)壓管峰值箝位控制方法適用的功率范圍,且將關(guān)斷時電容上存儲的能量在開通瞬間返給主電路,降低了能量損耗。該電路工作原理為:V關(guān)斷,當(dāng)V極射極電壓uCEv低于Vs2的雪崩電壓U(BR)CE2,支路的漏電流很小,其阻抗可視為無窮大,Vs2承擔(dān)整個uCEv,C上電壓約等于零,均壓支路不起作用。當(dāng)uCEv達到Vs2的U(BR)CE2,通過回路R1-C1-Vs2-R2的電流,流入門極。該電流是集電極向門極的反饋電流,相當(dāng)于增大了IGBT的米勒電容,使uCEv上升斜率下降。當(dāng)C1兩端電壓達到Vs1的雪崩電壓U(BR)CE1,流過回路Vs1-Vs2-R2的電流,注入門極。當(dāng)該電流足夠大時,IGBT進入有源區(qū),使uCEv箝位在U(BR)CE1+U(BR)CE2,實現(xiàn)

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采用Saber軟件仿真,主電路如圖3所示,V1,V2采用主要描述IGBT靜態(tài)特性、非線性極間電容及關(guān)斷時拖尾電流等特性的IGBT模型,模型參數(shù)大部分參考MBN600E45A器件數(shù)據(jù)手冊。均壓電路如圖7所示,Vs1,Vs2采用IGBT專有模型irg4bc40w。當(dāng)串聯(lián)的V1,V2關(guān)斷時,部分參數(shù)波形如圖8所示。其中,圖8a為Vs1,Vs2的集電極電流iCVs1,iCVs2,集射極電壓uCEvs1,uCEvs2;圖8b為V1,V2的uGE,uCE波形,實線為有均壓控制時的波形,虛線為無均壓控制時的波形。在t1時刻,uCEv1超過Vs2的雪崩電壓U(BR)CE2時,Vs2發(fā)生雪崩擊穿箝位;隨著uCEv1電壓繼續(xù)增加,C1充電,相當(dāng)于增加了V1,V2的米勒電容,起到斜率控制的作用;t2時刻,C1兩端電壓超過Vs1的雪崩電壓,Vs1發(fā)生雪崩擊穿箝位,將uCEv1箝位到U(BR)CE1+U(BR)CE2,實現(xiàn)作用。

4 結(jié)論
綜合考慮串聯(lián)IGBT關(guān)斷過程中3階段不均壓產(chǎn)生的特點,在800 V電壓下測試了基于穩(wěn)壓管箝位的峰值控制方法,實現(xiàn)了較好的均壓效果,驗證了該均壓原理的有效性。但該電路因穩(wěn)壓管器件功率、特性等因素,在高壓場合使用受到限制,這里對該均壓方法進行了改進,并通過仿真驗證了其均壓原理。為實際應(yīng)用中的參數(shù)優(yōu)化設(shè)計和高壓實驗驗證提供了理論基礎(chǔ)。


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