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LED照明器件與系統(tǒng)設(shè)計(jì)因素

作者: 時(shí)間:2011-08-09 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏
測(cè)試步驟:

本文引用地址:http://m.butianyuan.cn/article/168885.htm

  靜電放電測(cè)試時(shí)要求一次至少使用三個(gè)樣本,每個(gè)樣本規(guī)定的靜態(tài)和動(dòng)態(tài)參數(shù)都要事先進(jìn)行測(cè)試并記錄。

 ?、?在試驗(yàn)器插座上(A,B端)分別插上評(píng)價(jià)負(fù)載(短路線和R2);電流探針置于B端處;按表4設(shè)置試驗(yàn)器充電電壓;

  ② 分別引發(fā)試驗(yàn)器脈沖,觀測(cè)電壓波形,要求上升時(shí)間、峰值電流和振鈴波形滿足要求。采用拍照或數(shù)字貯存方式記錄這些波形。

 ?、?在試驗(yàn)器插座上換上被測(cè)(DUT)進(jìn)行放電試驗(yàn),通常按表4從最低電壓檔開始,每個(gè)被測(cè)應(yīng)采用一個(gè)正向和一個(gè)反向脈沖試驗(yàn),允許脈沖之間至少間隔0.3s時(shí)間。

 ?、?在室溫下測(cè)試樣本的所有靜態(tài)和動(dòng)態(tài)參數(shù)。如果要求多個(gè)溫度,首先從最低溫度開始。

 ?、?如果所有三個(gè)樣本都通過規(guī)定數(shù)據(jù)的參數(shù)測(cè)試,則再用表4中更高一擋電壓試驗(yàn)。記錄通過的最高電壓檔。

 ?、?如果有一個(gè)或多個(gè)樣本失效,重新用三個(gè)新的樣本,以降低一擋表4中電壓進(jìn)行試驗(yàn)。如果繼續(xù)有失效,再降低一擋,如果還有失效,則停止試驗(yàn)。

 ?、?按表4進(jìn)行分級(jí)。

  

試驗(yàn)等級(jí)

  2) 機(jī)器模式的靜電放電敏感性測(cè)試

  

機(jī)器模式的靜電放電敏感性測(cè)試原理圖

  圖5 機(jī)器模式的靜電放電敏感性測(cè)試原理圖

 ?、?雙極性脈沖發(fā)生器應(yīng)該為避免重復(fù)充電和產(chǎn)生雙脈沖。不能靠交換A、B端點(diǎn)來獲得雙極性性能。

 ?、?開關(guān)SW1須在脈沖通過后關(guān)閉10ms~100ms,以確保被試插座不在充電狀態(tài),它也應(yīng)該先于下個(gè)脈沖到來前至少開啟10ms。電阻R1和開關(guān)串聯(lián)以確保有一個(gè)慢放電,這樣就避免了一個(gè)帶電器件模式放電的可能性。

 ?、?圖5中評(píng)價(jià)電阻負(fù)載1為:一種截面為0.83mm2~0.21mm2鍍錫銅短路線,長(zhǎng)度不大于75mm。負(fù)載2為:500Ω,±1%,1000V。

 ?、?電流傳感器要求

  最小帶寬350MHz;

  峰值脈沖電流15A;

  上升時(shí)間小于1ns;

  能采用1.5mm直徑的實(shí)導(dǎo)體;

  能提供1mv/mA~5 mv/mA的輸出電壓;

 ?、?測(cè)試插座上再疊插一個(gè)插座(第二個(gè)插座疊插在主測(cè)試插座上)的情況,僅在第二個(gè)插座的波形滿足本標(biāo)準(zhǔn)的要求才允許;

  

通過短路線的400V電壓放電電流波形

  圖6 通過短路線的400V電壓放電電流波形

  

通過500

  圖7 通過500Ω電阻的400V電壓放電電流波形

  

放電電流波形

  測(cè)試步驟:

  機(jī)器模式靜電放電測(cè)試時(shí)要求一次測(cè)試至少使用三個(gè)樣本,每個(gè)樣本規(guī)定的靜態(tài)和動(dòng)態(tài)參數(shù)都要事先進(jìn)行測(cè)試并記錄。

 ?、?在試驗(yàn)器插座上(A,B端)插上短路線,分別施加100V、200V、400V電壓,電流探針置于B端處;記錄正和負(fù)的波形,修正波形使其滿足圖6的要求。

 ?、?使用500Ω電阻,加電壓±400V,記錄并修正波形使其滿足圖7的要求。

  ③ 按表7確定靜電放電測(cè)試起始電壓。

 ?、?加三個(gè)正的和負(fù)的脈沖到每個(gè)被測(cè)試樣本,脈沖之間的間隔至少要1s。

 ?、?在室溫下測(cè)試樣本的所有靜態(tài)和動(dòng)態(tài)參數(shù)。如果要求多個(gè)溫度,首先從最低溫度開始。

  ⑥ 如果所有三個(gè)樣本都通過規(guī)定數(shù)據(jù)的參數(shù)測(cè)試,則再用表7中更高一擋電壓試驗(yàn)。記錄通過的最高電壓檔,并按表7將被測(cè)器件分類。

 ?、?如果有一個(gè)或多個(gè)樣本失效,重新用三個(gè)新的樣本,以降低一擋表7中電壓進(jìn)行試驗(yàn)。如果繼續(xù)有失效,再降低一擋,如果還有失效,則停止試驗(yàn)。

  

等效充電電壓

  以上列舉的兩項(xiàng)為兼容性測(cè)試的一部分內(nèi)容。



評(píng)論


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