基于JTAG的星型掃描接口的設(shè)計及其仿真

串型等價掃描的設(shè)計流程如圖6所示。

串型等價掃描的關(guān)鍵是SSD操作，本文中，以單個TAP.7控制器和CLTAPC為例,對SSD指令的功能仿真驗證，結(jié)果分別如圖7所示。

邊界掃描測試技術(shù)廣泛應(yīng)用于超大規(guī)模集成電路中，測試標(biāo)準(zhǔn)的發(fā)展為測試接口設(shè)計提出了更高的要求。IEEE 1149.7測試標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)范的TAP.7接口具有傳統(tǒng)TAP.1接口所沒有的功能特性，因此對它的研究具有深遠(yuǎn)意義。本文中設(shè)計的支持星型掃描技術(shù)的接口是一種基于原有JTAG器件的TAP.1接口，在TAP.1接口上添加相應(yīng)的邏輯硬件層實現(xiàn)擴展功能的升級接口，在目前基于TAP.1接口的系統(tǒng)級測試中有很好的應(yīng)用前景。本文中的接口設(shè)計方法具有良好的可擴展特性，為以后進一步功能升級奠定基礎(chǔ)，從而避免了重復(fù)開發(fā)所帶來的資源浪費,同時對IEEE 1149.7標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范的系統(tǒng)器件的研究和設(shè)計具有很好的參考價值。