新聞中心

EEPW首頁 > 嵌入式系統(tǒng) > 設(shè)計應(yīng)用 > 基于DSP的多頻帶混合信號測試系統(tǒng)的設(shè)計

基于DSP的多頻帶混合信號測試系統(tǒng)的設(shè)計

作者: 時間:2010-02-26 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏
1 測試的特點(diǎn)和測試要求
  
隨著數(shù)字化浪潮的深入,具有功能的芯片越來越多地出現(xiàn)在人們的生活中。通訊領(lǐng)域的MODEM(如ADSL),CODEC和飛速發(fā)展的手機(jī)芯片,視頻處理器領(lǐng)域的MPEG,DVD 芯片,都是具有功能的芯片,其特點(diǎn)是處理速度高、覆蓋的頻率范圍寬,芯片的升級換代周期日益縮短。這就要求具有更高的性能和更寬的范圍,而且需要靈活的架構(gòu)來應(yīng)對不斷升級的芯片測試需求,以便有效降低新器件的測試成本。此外,混合信號芯片種類繁多,各種具有混合信號的芯片已經(jīng)廣泛運(yùn)用到生產(chǎn)和生活的各個領(lǐng)域,而不同的應(yīng)用領(lǐng)域,其工作的頻率和所要求的精度也各不相同,這就要求在對混合信號進(jìn)行測試時,抓住其共性來提出測試方案。所有混合信號芯片的一個最基本的共性就是其內(nèi)部均具有AD/DA,一些混合信號芯片還包括PLL模塊。本文所論述的混合信號測試僅涉及到ADC和DAC通路。
  
一般,對于ADC通路,需要通過波形發(fā)生器產(chǎn)生適當(dāng)?shù)募钚盘枺瑫r,通過自身的數(shù)字通道采集ADC的輸出信號并進(jìn)行運(yùn)算以獲得測試結(jié)果;對于DAC通路,需要通過數(shù)字通道產(chǎn)生適當(dāng)?shù)募钚盘?,同時,通過自身的波形采樣器采集DAC的輸出信號并進(jìn)行運(yùn)算獲得測試結(jié)果。但無論對于 ADC還是DAC測試,都要求系統(tǒng)的模擬模塊,即波形發(fā)生器和波形采樣器,與系統(tǒng)的數(shù)字通道同步,才能確保測試的準(zhǔn)確性。此外,系統(tǒng)還需提供豐富的內(nèi)置函數(shù),迅速完成對采集信號的運(yùn)算,才能實(shí)現(xiàn)對ADC/DAC的靜態(tài)和動態(tài)特性的測試。因此,在對混合信號芯片的測試過程中,一般需要數(shù)字通道、波形發(fā)生器、波形分析器、直流電源、時隙分析器、系統(tǒng)時鐘等模塊,其中波形發(fā)生器和波形分析器是決定系統(tǒng)速度和精度的關(guān)鍵環(huán)節(jié),本文分別在這兩個方面做較詳盡的論述。
  
2 傳統(tǒng)測試方法面臨的挑戰(zhàn)
  
傳統(tǒng)的純軟件的測試方法已經(jīng)難于應(yīng)對新型混合信號器件的測試需求,對于混合信號器件,通常要通過測試其互調(diào)失真(IMD)、多音頻功率比率 (MTPR)等參數(shù),以獲得器件的非線性特性,測試這些參數(shù),需要采集大量的數(shù)據(jù),并進(jìn)行大量的運(yùn)算,傳統(tǒng)的測試儀器通常采用軟件的方法在主機(jī)中實(shí)現(xiàn),其缺點(diǎn)在于,一方面限制了運(yùn)算速度的提高;另一方面,主機(jī)和測試臺之間存在大量的數(shù)據(jù)交互,容易造成總線沖突,因而測試效率不高。針對這個情況,一種切實(shí)可行的方案是在測試系統(tǒng)前端建立本地儀器子系統(tǒng),將原來軟件的信號處理庫移植到本地處理器中來完成,儀器子系統(tǒng)集成信號產(chǎn)生和采集的功能,并采用高速進(jìn)行大量的數(shù)學(xué)運(yùn)算,以減少主機(jī)處理的時間,消除總線沖突。而且前端子系統(tǒng)與被測器件(DUT)間結(jié)構(gòu)緊湊,可以取得很高的時鐘頻率,便于靈活地處理多種測試問題,例如,在傳統(tǒng)測試系統(tǒng)中,要產(chǎn)生具有ADSL測試所需的動態(tài)范圍的音頻很困難,現(xiàn)在,使用基于的任意波形發(fā)生器,這一任務(wù)就變得非常容易。這里最新研制的BC3192V50數(shù)?;旌霞呻娐窚y試系統(tǒng)基于VXI總線,其最大優(yōu)點(diǎn)是軟件和硬件都具有開放性和標(biāo)準(zhǔn)化的結(jié)構(gòu),這種結(jié)構(gòu)允許開發(fā)新的模塊和子系統(tǒng)來加強(qiáng)系統(tǒng)的測試能力,以滿足高速發(fā)展的集成電路產(chǎn)業(yè)的測試需求,針對多混合信號IC的測試需要,利用基于的測試系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)復(fù)雜的多混合信號芯片測試。
  
3 國內(nèi)外混合信號測試現(xiàn)狀
  
近幾年,國內(nèi)外的測試行業(yè)都緊隨著IT技術(shù)的發(fā)展步伐,不斷地研究新器件的測試方法,開發(fā)、更新測試儀器,以適應(yīng)市場的需要。
  
由于國外對IC測試重視比較早,測試儀器的開發(fā)規(guī)模大、技術(shù)成熟,典型的如Credence公司的ASL系列大型測試系統(tǒng),采用了處理技術(shù),使IC制造商可以在單一平臺上測試所有用于消費(fèi)類音頻和視頻應(yīng)用的器件。我國在IC測試方面起步比較晚,雖然也研制出一些大型的具有混合IC測試功能的測試系統(tǒng),但對多種頻率范圍的混合信號芯片測試還沒有實(shí)用化。此外,大型的測試儀器尤其是進(jìn)口的測試儀器,價格非常昂貴,測試程序的開發(fā)和儀器的維護(hù)、維修費(fèi)用都非常高,目前國內(nèi)的測試儀市場主要集中于中、小型測試儀,因此,通過基于處理的儀器系統(tǒng)來實(shí)現(xiàn)多頻帶混合信號芯片的測試很有意義,其市場前景也非常好。目前,混合信號測試系統(tǒng)的發(fā)展方向,一個是要提高對高速和多頻帶IC的測試能力和測試效率,一個是要盡可能降低測試成本,因此,現(xiàn)今的測試系統(tǒng)必須以靈活的架構(gòu)來滿足多種混合信號測試的需求。業(yè)界主流的做法是將測試系統(tǒng)進(jìn)一步模塊化,通過儀器子系統(tǒng)來獨(dú)立地處理信號和輸出測試結(jié)果,并在儀器子系統(tǒng)中集成高速信號處理模塊。此外,為了提高測試效率,合理利用資源,利用同一測試系統(tǒng)做多芯片并行測試也是一個發(fā)展趨勢。
  
4 基于DSP的混合信號測試方案
  
針對當(dāng)今混合信號的測試需求和國內(nèi)同類產(chǎn)品的現(xiàn)實(shí)情況,提出一種混合信號測試的低成本解決方案,即借鑒目前國際上主流混合信號測試系統(tǒng)的架構(gòu),緊密結(jié)合中小型測試儀器的特點(diǎn),充分利用BC3192測試系統(tǒng)的開放性和標(biāo)準(zhǔn)化結(jié)構(gòu),采用新型高速DSP來提升多頻帶混合信號芯片的測試能力。
  
本文實(shí)現(xiàn)方案是以任意波形發(fā)生器(ArbitraryWave Generator,AWG)和音頻/視頻數(shù)字化儀(Audio/Video Digitalizer,AVD)的組合來應(yīng)對多種頻帶的混合信號芯片測試。AVD和AWG的組合可以滿足波形發(fā)生、操作和分析的需要,內(nèi)部集成高性能 DSP,能夠?yàn)闇y試和分析提供完整的DSP庫函數(shù),因而能夠滿足混合信號的多種測試需要。

上一頁 1 2 下一頁

評論


相關(guān)推薦

技術(shù)專區(qū)

關(guān)閉