基于單片機(jī)和FPGA的頻率特性測試儀的設(shè)計(jì)

1 引言
頻率特性是網(wǎng)絡(luò)的性能最直觀反映。頻率特性測試儀是測量網(wǎng)絡(luò)的幅頻特性和相頻特性，并顯示相應(yīng)曲線的一種快速、方便、動態(tài)、直觀的測量儀器，可廣泛應(yīng)用于電子工程領(lǐng)域。
該測試儀以掃頻外差為基本原理，并以單片機(jī)和FPGA構(gòu)成的最小系統(tǒng)為控制核心，很好地完成對有源雙T網(wǎng)絡(luò)進(jìn)行頻率在100 Hz～100 kHz范圍內(nèi)的幅頻響應(yīng)和相頻響應(yīng)特性的測試，并實(shí)現(xiàn)在通用數(shù)字示波器上同時(shí)顯示幅頻和相頻響應(yīng)特性曲線。

2 系統(tǒng)設(shè)計(jì)方案
2．1 總體方案
該設(shè)計(jì)采用單片機(jī)和FPGA結(jié)合的方式。將輸出頻率可步進(jìn)的正弦信號的掃描信號源作為被測網(wǎng)絡(luò)的輸入信號Vi，則被測網(wǎng)絡(luò)的輸出信號Vo為頻率可步進(jìn)的信號。通過測量各頻率點(diǎn)的幅度就可得到Vo和Vi的有效值，兩者之比就是該點(diǎn)的幅度頻率響應(yīng)；對Vo和Vi進(jìn)行過零比較、整形，再送到FPGA測量相位差。 Vi的上升沿啟動計(jì)數(shù)，Vo的上升沿停止計(jì)數(shù)，所得時(shí)間值與信號周期之比，就是該點(diǎn)的相位頻率響應(yīng)。此方案采用FPGA測量相位差，而且便于制作DDS掃描信號源。
2．2 掃頻信號源設(shè)計(jì)方案
該設(shè)計(jì)采用直接數(shù)字合成(DDS)信號源。DDS信號源是由數(shù)字量控制的頻率源，如圖 1所示，其具體實(shí)現(xiàn)過程是：將輸出波形一個完整周期的幅度值按相位步進(jìn)順序量化存儲于雙端口RAM中，按一定的地址間隔讀出，經(jīng)D／A轉(zhuǎn)換成模擬信號，再經(jīng)低通濾波器濾去D／A轉(zhuǎn)換帶來的小臺階和數(shù)字電路產(chǎn)生的毛刺，即可獲得高精度、高純度的正弦信號。理論上只要累加器的位數(shù)足夠多，便可實(shí)現(xiàn)任意小的頻率步進(jìn)，且頻率分辨率很高，十分接近于連續(xù)變化。通過預(yù)設(shè)相位累加器初值可很方便地實(shí)現(xiàn)精密相位調(diào)節(jié)。

2．3 幅度測量模塊的方案
該模塊采用集成真有效值變換器件。測量被測信號的真有效值，然后將其換算為幅值。即可實(shí)現(xiàn)對正弦波的幅值測量。該方案硬件、軟件都很簡單，而且精度高，效果理想。