電磁兼容預(yù)測(cè)試在大功率開(kāi)關(guān)電源研制過(guò)程中的重要性

圖一　　　　　　　　　　

圖二

圖三

圖四

圖一 為電源進(jìn)線端采集的傳導(dǎo)騷擾值。

圖二 為串接進(jìn)線電抗器后，電源進(jìn)線上采集到的傳導(dǎo)騷擾值，可看出騷擾值在1M—5M頻率范圍內(nèi)降低了20---30 db。

圖三 為串接EMI濾波器后，電源進(jìn)線上采集的傳導(dǎo)騷擾值。可看出曲線在300K到10M 范圍內(nèi)基本都降到了紅線以下，其中最大部分下降了40db 左右，效果很明顯。

圖四　為同時(shí)串接EMI和進(jìn)線電抗器后，電源進(jìn)線上采集的傳導(dǎo)騷擾值，從圖中可看出整體指標(biāo)都已在極限值以內(nèi)，達(dá)到了預(yù)期效果。

由于大功率開(kāi)關(guān)電源成本較高，如果在定型之前就能對(duì)它的EMC進(jìn)行預(yù)測(cè)試，改進(jìn)不合理的設(shè)計(jì)，進(jìn)行設(shè)計(jì)優(yōu)化，抑制電磁干擾，使EMC達(dá)到國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)，要比在設(shè)備制造出來(lái)之后發(fā)現(xiàn)問(wèn)題再加以改進(jìn)經(jīng)濟(jì)的多，否則，生產(chǎn)廠家將為解決EMC問(wèn)題付出昂貴的費(fèi)用。通過(guò)圖五能更加說(shuō)明問(wèn)題。

EMC預(yù)測(cè)試是開(kāi)關(guān)電源設(shè)計(jì)、研制過(guò)程中至關(guān)重要的手段，對(duì)生產(chǎn)廠家來(lái)說(shuō)，可以在研制的初期解決EMC問(wèn)題，降低研制成本；對(duì)用戶來(lái)說(shuō)，EMC達(dá)標(biāo)是保證其設(shè)備電磁環(huán)境的重要指標(biāo)，應(yīng)引起足夠的重視。因此，大功率開(kāi)關(guān)電源的研制必須進(jìn)行EMC預(yù)測(cè)試。

參考文獻(xiàn)

[1]　陳淑鳳、馬蔚宇、馬曉慶 《電磁兼容實(shí)驗(yàn)技術(shù)》,北京郵電大學(xué)出版社，2001