怎樣判定4-20mA電流源的電流范圍？

　　4N28的增益相當普通(0.1至0.3)，但是它能夠產(chǎn)生一個在下降到接近于“地電位”時能被檢出的小標志。LM4041-ADJ可以通過332Ω電阻檢測出4.0mA的電流，然后導通4N28。如果該電流降至3.7mA以下，LM4041就會關斷光耦。即使是一個簡單的電路也可以實現(xiàn)非常有用的功能。你沒有必要去找一本30年的雜志。

　　如果你想檢查這個電路開關和檢測的實際電平，你可能要將一個小三角波測試儀放在高于和低于3.7mA的已校準電流中。如果輸出占空比正好是50%，你就會發(fā)現(xiàn)閾值是正確的。如果想獲得優(yōu)于2%的精度，可以進行微調(diào)。

　　我曾經(jīng)在Teledyne公司工作過，如果你懂希臘語，你會發(fā)現(xiàn)Teledyne的意思是“距離和力”。 甚至在與高于或低于地電勢幾百伏的電壓相隔離的情況下，這個電路也可以產(chǎn)生一個較小的力。沒有電的連接。因此隔離并不會造成精度低或者費用高。

　　什么時候需要測試長期穩(wěn)定性?

　　幾年以前，有一個朋友打電話問我有關一款新型NSC放大器的問題：“您有關于這款運算放大器長期穩(wěn)定性的數(shù)據(jù)嗎?”我甚至沒有查看資料就告訴他，我們確實沒有這方面的數(shù)據(jù)。這只是一款相當新的普通的運算放大器，并沒有想要成為低偏置或低漂移領域的技術領先者。因此，不是我們吹牛，這種器件沒有任何風險。不過客戶卻并不滿意。

　　“為什么你們沒有關于這方面的完整信息呢?”我試著解釋道，我們沒有余力收集每種小產(chǎn)品的這類數(shù)據(jù)，沒有余力收集和分析數(shù)據(jù)，也承受不起為此而延誤產(chǎn)品上市的責任。即使我們馬上發(fā)布這些數(shù)據(jù)，然后再更新數(shù)據(jù)手冊，用戶如果看了最初的數(shù)據(jù)手冊還是會問這個同樣的問題。

　　進行正確的研究所需要的人力、工程量和技術人員工作量將非常大。很少有客戶有如此迫切的要求，值得我們?nèi)ナ占@樣的數(shù)據(jù)。一般情況下，如果我們采用這種工藝在以前的電路上獲得了比較好的數(shù)據(jù)，那么變化就相當小，例如布線或電流大小的微小變化，或者輸出級的變化，這里，我們假設新器件將與舊器件非常相似。

　　現(xiàn)在，我們進行一項小的漂移測試，目的只是為了確保不會出什么問題。例如，我們將加載三塊電路板，每塊板有30個器件，目的是看看電路板是否達到預期的性能。我們將比較高溫工作前后1000小時的數(shù)據(jù)。我們可以將其中一塊電路板放到烤箱中，然后收集2000小時的數(shù)據(jù)。但是這種測試一般都是一個無聊的過場。當我們做完所有的操作后，也沒有什么值得夸耀的。除了“合格”之外，沒有什么可以寫到報告中的。

　　打電話詢問的客人仍然不滿意。“好的，那么我會仔細查一下，問問你們的競爭對手他們的長期漂移是多少，”他說道。這樣我就回復，“請便”，然后開始告訴他我們的一些競爭對手的電話號碼。不過我后來停頓了一下，告訴他：“但他們將會告訴你同樣的故事。他們也沒有余力對推出的每一個良好的電路進行精確的壽命測試。”

　　我們在什么情況下需要進行大量的測試和數(shù)據(jù)記錄呢?當我們采用一種新工藝或者新電路，并且這種工藝或電路有望提供優(yōu)越的性能時。新型低漂移運算放大器?當然。當幾年前國家半導體推出新型斬波穩(wěn)定放大器時，我們進行了所有類型的壽命測試，以確保不會出現(xiàn)任何不穩(wěn)定的產(chǎn)品。在不存在任何不穩(wěn)定的放大器的情況下，一個好放大器的標準又是怎樣的呢?我們進行了大量挑剔的測試來分析足夠多的數(shù)據(jù)，從而確定了“0.006μV/月”的典型漂移率(例如LMP2012)。

　　一年或者兩年內(nèi)你期望看到的漂移是多少?根據(jù)我們的標準規(guī)則是“如果時間為N ×1000小時，我們預期的漂移為n = √N。”這往往會讓客戶高興，也會讓他們沒什么可說的了。因為：1、這個規(guī)則往往是事實，或者接近事實;2、如果客戶想獲得數(shù)據(jù)，這對于他來說工作量將相當大!這樣，他往往不會很快就再提出問題。例如，如果時間為兩年(即16,000小時)的話，漂移可以用√16 = 4來估計。

　　LM199AH電壓參考

　　當38年前發(fā)布新型LM199AH時，該器件是采用新工藝設計的一個新電路，旨在消除引起長期漂移的所有可能的原因。其輸出容差為±3%，但每1000小時的長期穩(wěn)定性典型值為0.0020%，即20ppm。

　　我們進行了大量的初步測試，以篩選出不穩(wěn)定的器件，然后放進比較電路中，這樣我們就可以使用一個出色的六位數(shù)字電壓表(DVM)來比較多個電壓參考源(比如溫控標準電池、溫控帶隙電壓參考和其它多個相當不錯的齊納二極管)。

　　通過采用多個電壓參考，我們可以避免所有被測器件(DUT)看起來像在相同的時間產(chǎn)生漂移的情況。這種問題是由于所有待測器件發(fā)生漂移引起的嗎?不，因為其它電壓參考在相同的時間表現(xiàn)出了同樣的衰退，這意味著問題在于數(shù)字電壓表的電壓參考。這種影響可以“去掉”，至少可以忽略不計。

　　有一天我心血來潮，拿出一堆LM199AH，并將它們以四個為一組焊接在一起，用小電阻(499Ω)取其輸出的平均值。該輸出好像噪聲更小，漂移更低。于是我們再做一次測試。很快我找到了四組四個為一組的LM199AH。

　　我把八個LM199的平均輸出與另外八個LM199的平均輸出進行了比較，結果確實很好!有些測試顯示有限帶寬(4Hz)下的噪聲不到2μVpp。如果我取16個LM199的平均輸出，輸出噪聲可能會更小!大多數(shù)用戶都不需要這么低的噪聲，但是通過對幾個電路進行平均，就可以使噪聲成平方根下降，直到你用完力氣、空間和電源為止。