一種Flyback軟開關(guān)實(shí)現(xiàn)方法
T為開關(guān)周期。
則激磁電感電流的最大值和最小值可以表示為:
ILmmax=(VinDT)/2Lm+Io/n(2)
ILmmin=(VinDT)/2Lm-Io/n(3)
式中:Io是負(fù)載電流。
從上面的原理分析中可以看到S1的軟開關(guān)條件是由|ILmmin|使S1的輸出結(jié)電容放電,同時通過變壓器對S2的輸出結(jié)電容充電來創(chuàng)造的;而S2的軟開關(guān)條件是由|ILmmax|對S1的輸出結(jié)電容充電,同時通過變壓器使S2的輸出結(jié)電容放電來創(chuàng)造的。
S1及S2的軟開關(guān)極限條件為儲存在Lm上的能量對S1和S2的輸出結(jié)電容充放電,足以令其中一結(jié)電容放電到零,而另一結(jié)電容充電到最大。
這樣S1的極限條件為
(nVo+Vin)2(=)Lm(4)
S2的極限條件為
(nVo+Vin)2(=)Lm(5)
式中:C1,C2分別為S1和S2的輸出結(jié)電容。
由于在實(shí)際電路中死區(qū)時間比較小,因此可以近似認(rèn)為在死區(qū)時間內(nèi)電感Lm上的電流保持不變,即為一個恒流源對開關(guān)管的結(jié)電容進(jìn)行放電。在這種情況下的軟開關(guān)條件稱為寬裕條件。
S1的寬裕條件為
(nVo+Vin)≤|ILmmin|tdead1(6)
S2的寬裕條件為
(nVo+Vin)≤|ILmmax|tdead2(7)
式中:tdead1,tdead2分別為S1及S2開通前的死區(qū)時間。
由于能量由電源向負(fù)載傳送,即負(fù)載電流IO>0,比較式(2)與式(3)可知|ILmmax|>|ILmmin|,特別是在滿載時,|ILmmax|>>|ILmmin|。所以S2的軟開關(guān)實(shí)現(xiàn)比S1要容易得多。因此在具體的實(shí)驗設(shè)計中,關(guān)鍵是要設(shè)計S1的軟開關(guān)條件。首先確定可以承受的最大死區(qū)時間,然后根據(jù)式(6)及式(3)推算出激磁電感量Lm。在能實(shí)現(xiàn)軟開關(guān)的前提下,Lm不宜太小,以免造成開關(guān)管上過大的電流有效值,使開關(guān)的導(dǎo)通損耗過大。
3 實(shí)驗結(jié)果
設(shè)計了一個48V輸入、5V/5A輸出的帶輔助繞組的Flyback電路模型,給出了實(shí)驗結(jié)果,進(jìn)一步驗證了上述軟開關(guān)實(shí)現(xiàn)方法的正確性。該變換器的規(guī)格和主要參數(shù)如下:
輸入電壓Vin 48V;
輸出電壓Vo 5V;
輸出電流Io 0~5A;
工作頻率f 100kHz;
主開關(guān)S1,S2 IRF730,IRFZ44;
激磁電感Lm 70μH;
變壓器原副邊及輔助繞組匝數(shù)比 26∶4∶4。
圖4分別給出了輕載(1A)及滿載(5A)時的實(shí)驗波形,從圖4(g)~圖4(j)可以看到開關(guān)管S1及S2在輕載和滿載時都實(shí)現(xiàn)了軟開關(guān)。
(a)Current of D(1A) (b)Current of D(5A)
(c)Current of S2(1A) (d)Current of S2(5A)
(e)Current of S1(1A) (f)Current of S1(5A)
(g)Soft switching of S1(1A) (h)Soft switching of S1(5A)
(i)SoftswitchingofS2(1A) (j)SoftswitchingofS2(5A)
圖4 實(shí)驗波形
4 結(jié)語
本文分別分析了電路工作在輕載及滿載時的情況,即輸出整流二極管分別處于斷續(xù)及連續(xù)狀態(tài),此兩種狀態(tài)分別有自己的優(yōu)缺點(diǎn),斷續(xù)狀態(tài)可以實(shí)現(xiàn)二極管的零電流關(guān)斷,但其電流應(yīng)力較高,而連續(xù)狀態(tài)則剛好相反。因此,可以根據(jù)具體的需要,將電路設(shè)計在其中一個狀態(tài)或跨越兩種狀態(tài)。
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